Справочник по спектрам излучения мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)
Мягкая рентгеновская эмиссионная спектроскопия (SXES) используется для исследования эффектов твердого тела, энергетического состояния связывающих электронов. Эта спектроскопия недавно была объединена с современной просвечивающей электронной микроскопией (ПЭМ) и применена к коммерческому электронно-зондовому микроанализу (РСМА) / сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Поскольку существует много атомных резонансов в области энергий мягкого рентгеновского излучения (< нескольких кэВ), SXES в сочетании с электронной микроскопией обеспечивает чувствительный инструмент для метода элементной и химической идентификации, основанного на микроскопии, который может открыть множество возможностей для применения.
Масами Тераучи1), Масато Койке1), Хидэюки Такахаси2), Масару Такакура2), Таканори Мурано2) и Сёго Кошия2)
ИМРАМ, Университет Тохоку1) и JEOL Ltd.2)
Связанные товары
Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)
Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр (SXES) представляет собой спектрометр сверхвысокого разрешения, состоящий из недавно разработанной дифракционной решетки и высокочувствительной рентгеновской ПЗС-камеры.
Так же, как и в случае EDS, возможно параллельное детектирование и может быть выполнен анализ со сверхвысоким энергетическим разрешением 0.3 эВ (край Ферми, стандарт Al-L), превосходящий энергетическое разрешение WDS.
