JEOL NEWS｜Технический журнал
Вы можете скачать каждую НОВОСТЬ JEOL в формате PDF.
Если щелкнуть обложку брошюры, которую вы хотите загрузить, появится соответствующий PDF-документ.
Обратите внимание, что загрузка брошюры в формате PDF может занять больше времени, в зависимости от времени, когда многие люди получают доступ к Интернету.
Последний номер
Содержание:
Решающая роль электронного микрозонда в решении микроаналитических задач в науках о Земле и археометрии
Юрген Концетт, Бастиан Йоахим-Мроско, Роланд Сталдер, Петер Троппер, Мартина Трибус
Университет Инсбрука, Институт минералогии и петрографии
Трехмерный цифровой структурный анализ обонятельных нейронных цепей ~ Изучение возможностей биологического анализа с помощью электронной микроскопии ~
Кадзунори Тоида1,2 Харуё Яманиси1, Эми Киёкаге3
1 Кафедра анатомии, Медицинская школа Кавасаки
2 Научно-исследовательский центр сверхвысоковольтной электронной микроскопии, Университет Осаки
3 Кафедра медицинских технологий, Университет медицинского благосостояния Кавасаки
Новые клеточные структуры и физиологические особенности новых типов бактерий, выявленные с помощью криоэлектронной микроскопии
Тайки Катаяма
Научно-исследовательский институт георесурсов и окружающей среды, Национальный институт передовой промышленной науки и технологий
Рентгеновский и электронно-лучевой анализ зубов хитона, накапливающих железо в высоких концентрациях
Чия Нумако1, Сейичи Таками2, Сиори Камидзё3, Такеши Оцука3, Юсуке Сакута3, Сюнсуке Асахина3
1 Университет Тиба, Высшая школа наук, 2 Нагойский университет, Высшая школа инженерии, 3 JEOL Ltd.
Метод ЭПР с временным разрешением для наблюдения быстрых радикальных реакций
Ацуши Кадзивара
Нарский педагогический университет
JEM-120i, 120 кВ просвечивающий электронный микроскоп с компактным внешним видом и простотой использования -Его особенности и применение-
Харука Аоки
Бизнес-подразделение EM, JEOL Ltd.
Переход от простого к автоматическому — преодоление трудностей автоматизации с помощью новейшего FE-SEM JSM-IT810 —
Хиронобу Ниими, Тацуро Нагоши, Нориюки Иноуэ
Бизнес-подразделение EP, JEOL Ltd.
Разработка большого телесно-углового безоконного EDS-детектора «Gather-X», используемого с полевым эмиссионным сканирующим электронным микроскопом (FE-SEM)
Кота Янагихара
Бывшее бизнес-подразделение, JEOL Ltd.
Представление нового крио-ФИБ-СЭМ «CryoLameller»
Ринтаро Кавано1, Ватару Сигэяма2, Хидеки Мацусима1, Наоки Хосоги3, Чикако Накаяма4, Кацуюки Судзуки4, Нориаки Мизуно1
1 Бизнес-подразделение EP, JEOL Ltd. 2 ДЖЕОЛ США, Inc. 3 Бизнес-подразделение EM, JEOL Ltd. 4 Центр разработки решений, JEOL Ltd.
Развитие технологической разработки электронно-лучевого металлического 3D-принтера JAM-5200EBM
Масахико Иида, Аюми Миякита, Кодзо Койва, Нари Цутагава, Ёхей Дайно, Сатоши Оно, Такаши Сато
Подразделение IS, JEOL Ltd.
