Толщина пленки по методу тонкой пленки FP

Введение

Для придания деталям коррозионной стойкости, декоративного оформления и функциональности применяются такие методы обработки поверхности, как гальваническое покрытие. Поскольку толщина этих пленок влияет на характеристики изделия, качество и себестоимость производства, важно контролировать ее. Рентгенофлуоресцентный спектрометр JEOL позволяет проводить неразрушающее измерение толщины пленок (до 5 слоев). Используя наш усовершенствованный метод флуоресцентной микроскопии, стандарты не требуются.

Примеры измерений тонких пленок

Au-покрытие

Образец

Условие измерения

Напряжение: 50 кВ
Диаметр коллиматора: 0.9 мм
Атмосфера: Воздух
Время измерения: 60 сек.

Спектр

Анализ результатов

Сертифицированное значение (мкм)	Результат анализа (мкм)
1.99	2.06

Ni покрытие

Образец

Условие измерения

Напряжение на трубке: 50 кВ
Диаметр коллиматора: 0.9 мм
Атмосфера: Воздух
Время измерения: 60 сек.

Спектр

Анализ результатов

Сертифицированное значение (мкм)	Результат анализа (мкм)
0.99	1.10

Цинковое покрытие

Образец

Условие измерения

Напряжение на трубке: 50 кВ
Диаметр коллиматора: 0.9 мм
Атмосфера: Воздух
Время измерения: 60 сек.

Спектр

Анализ результатов

Сертифицированное значение (мкм)	Результат анализа (мкм)
2.61	2.81

Ag Plating

Образец

Условие измерения

Напряжение на трубке: 50 кВ
Диаметр коллиматора: 0.9 мм
Атмосфера: Воздух
Время измерения: 60 сек.

Спектр

Анализ результатов

Сертифицированное значение (мкм)	Результат анализа (мкм)
8.97	8.89

Решения по областям применения

Другое

Сопутствующие продукты

Рентгенофлуоресцентные спектрометры (настольные)