Тест/анализ посторонних веществ на поверхности смолы методом рентгеноструктурного анализа
Анализ посторонних веществ с помощью XRF и SEM-EDS
Анализ загрязнителей, содержащихся в продуктах или прилипших к ним, может предоставить важную информацию о пути проникновения инородного вещества или источнике отказа.
Поскольку рентгенофлуоресцентный спектрометр (ED-XRF) может обеспечить быстрый неразрушающий элементный анализ образцов любого типа, таких как твердые, жидкие и порошкообразные, его можно использовать в качестве инструмента для скрининга.
Поскольку рентгенофлуоресцентный спектрометр (ED-XRF) может обеспечить быстрый неразрушающий элементный анализ образцов любого типа, таких как твердые, жидкие и порошкообразные, его можно использовать в качестве инструмента для скрининга.
- Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии. 
PDF 350KB
Связанные товары
Решения по областям применения
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.