Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Оже-анализ поперечного сечения CP

CP создавал широкие чистые поперечные сечения объемного образца, что позволяло оператору изучать более мелкие структуры и наблюдать дефекты. Электронная оже-спектроскопия использовалась для анализа микроплощадей КП-сечений диаметром 100 нм.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 153KB
Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!