Оценка применения сканирующей электронной микроскопии высокого разрешения для пористых материалов

В последние годы большое внимание привлекли нанопористые материалы, такие как цеолиты и мезопористые кристаллы кремнезема. В частности, включение различных материалов, таких как органические молекулы или наночастицы металлов и других неорганических соединений, в их поры, что приводит к появлению новых интересных функций. Для таких материалов важно определить их структуру, состав и механизмы роста, чтобы максимизировать их полезность в будущих приложениях. Недавний прогресс в эффективности СЭМ огромен, особенно в области низкоэнергетической визуализации, где мы теперь можем напрямую наблюдать тонкие поверхностные структуры пористых материалов, даже тех, которые являются электрическими изоляторами. Кроме того, путем точной фильтрации и обнаружения испускаемых электронов по их энергии мы можем выборочно получать различные типы информации, такие как состав материала, расположение частиц внутри или снаружи пор и т. д. Физические процессы и технологии, лежащие в основе этой точной настройки приземления и обнаружения. энергии как ударных, так и испускаемых электронов, соответственно, объясняются и иллюстрируются с использованием ряда пористых материалов, включая цеолит LTA, SBA-15, SBA-16, цеолит LTL, FDU-16 и «погремушки» Au@TiO2, а также сравнения с другими методами, такими как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и просвечивающая электронная микроскопия (ТЕМ). Мы пришли к выводу, что, используя чрезвычайно низкую энергию приземления, передовые методы подготовки проб и глубокое понимание задействованных физических процессов, HRSEM предоставляет новую и уникальную информацию и взгляды на эти промышленно важные материалы.