Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

JEOL Руководство по наблюдению с помощью сканирующего микроскопа

Сегодня сканирующий электронный микроскоп (далее сокращенно СЭМ) используется не только в медицине и биологии, но и в различных областях, таких как разработка материалов, металлических материалов, керамики и полупроводников. Этот инструмент становится проще в использовании с развитием электроники и внедрением новых технологий. Теперь любой желающий может делать микрофотографии после краткого обучения процедуре его работы. Однако, когда человек начинает использовать инструмент, он не всегда может делать удовлетворительные фотографии. Когда фотография недостаточно четкая, или когда невозможно получить необходимую информацию, необходимо подумать о причинах этого.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 1.03 МБ
Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!