STEM-анализ сложных соединений со сверхвысоким разрешением
JEOLnews, том 45, номер 1, 2010 г.
Эйдзи Абэ†, Дайсуке Эгуса, Рё Исикава и Такехито Секи
Департамент материаловедения и инженерии Токийского университета
Коррекция аберраций линзы объектива позволила свести электронный пучок в суб-Å масштабе, а сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (STEM) теперь обычно обеспечивает значительно улучшенное пространственное разрешение как для визуализации, так и для спектроскопии. Здесь мы демонстрируем мощное использование STEM сверхвысокого разрешения для анализа сложных соединений, включая долгопериодические модулированные и апериодические квазикристаллические структуры.
- Дополнительную информацию см. в файле PDF.
PDF 8.56 МБ
Связанные товары
Решения по областям применения
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.