Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью массы

JMS-S3000 SpiralTOFTM имеет уникальную траекторию полета 17 м, которая предлагает систему MALDI-TOF MS с самым высоким разрешением, доступную в настоящее время. SpiralTOF с увеличенным расстоянием полета сводит топографический эффект матричного кристалла к минимуму и обеспечивает высоковоспроизводимую разрешающую способность массы и высокую точность массы с внешней калибровкой массы. В этой работе мы демонстрируем измерение полимерного стандарта с 4 типами матриц, которые обычно используются для измерения полимера MALDI с использованием системы JEOL SpiralTOF. Кроме того, мы изучили состояние кристаллов с помощью сканирующего электронного микроскопа JEOL JSM-7600F с тепловой полевой эмиссией (FE-SEM).

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 3.5 МБ