Анализ наноструктуры поверхности в Auger-XPS с угловым разрешением Высокочувствительный анализ поверхности с использованием ARXPS
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (ARXPS) — это метод контроля глубины обнаружения образца путем изменения угла наклона образца по отношению к анализатору. В отличие от профилирования по глубине с ионным распылением, ARXPS позволяет проводить неразрушающий анализ областей на глубине вплоть до глубины выхода фотоэлектронов. Данные, полученные в ARXPS, определяют следующее:
-
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии. -
PDF 141.5KB
Связанные товары
Решения по областям применения
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.