Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Структурный анализ анионных ПАВ в режиме отрицательных ионов MALDI с использованием «SpiralTOF™-plus» [Приложение MALDI]

MSTips №333

Времяпролетный масс-спектрометр с лазерной десорбцией и ионизацией с использованием матрицы (MALDI-TOFMS) является мощным инструментом для анализа полимеров.
Поскольку MALDI в основном производит однозарядные ионы, м / г значения в масс-спектре совпадают с массой полимерных ионов. Используя MALDI-TOFMS с высоким массовым разрешением, можно идентифицировать составы полимерных серий по их повторяющимся звеньям и концевым группам, а также рассчитать молекулярно-массовые распределения каждого из них. Дефект массы Кендрика (KMD) недавно был применен к анализу полимеров для визуализации серий полимеров, содержащихся в сложных масс-спектрах с высоким разрешением по массе. Кроме того, опция TOF-TOF позволяет проводить структурный анализ, особенно для анализа концевых групп, полимеров из осколочных ионов, образующихся в результате высокоэнергетической диссоциации, индуцированной столкновениями (HE-CID). При анализе полимеров с помощью MALDI-TOFMS образец, матрица и раствор катионизатора смешиваются, наносятся на пластину-мишень, высушиваются на воздухе и измеряются. Как правило, ионы целевого полимера будут наблюдаться в режиме положительных ионов как [M+Li]+, [М+На]+ или [М+К]+ по катионизаторам. Однако полимеры с сульфатными или фосфатными концевыми группами можно обнаружить в отрицательных ионах. В этом отчете мы покажем анализ смеси анионных и неионогенных поверхностно-активных веществ.

Эксперимент

Используемый образец представлял собой детергент, содержащий сульфат алкилового эфира (AES) и алкиловый эфир полиоксиэтилена (POEAE), разбавленный в 100 раз метанолом. В качестве матрицы использовали насыщенный метанольный раствор α-циано-4-гидроксисиликата (CHCA), а в качестве катионизатора использовали тетрагидрофурановый раствор трифторацетата натрия (NaTFA) с концентрацией 1 мг/мл. В случае измерения в режиме положительных ионов сначала наносили раствор NaTFA, а затем наносили и сушили на воздухе смесь 1:1 (об./об.) раствора образца и раствора матрицы. При измерении в режиме отрицательных ионов раствор, в котором раствор образца и раствор матрицы были смешаны в соотношении 1: 5 (об./об.), наносили и сушили на воздухе. Режимы положительных/отрицательных ионов SpiralTOF JMS-S3000 использовались для получения масс-спектра, а режим отрицательных ионов TOF-TOF использовался для получения спектра ионов-продуктов. Для анализа KMD использовался msRepeatFinder.

Результат

Результат измерения: Режим положительных ионов

На рис. 1 показан масс-спектр (а) и график КМД (б) (базовый блок C2H4O) в режиме положительных ионов. Видно, что в масс-спектре на рис. 1а наблюдается много компонентов. Разделение изобарических пиков с Δm 0.13u можно было подтвердить даже в м / г 575 с использованием MALDI-TOFMS с высоким разрешением по массе. В результате оценки состава на основе точного массового анализа красная и зеленая стрелки были оценены как POEAE и AES соответственно. Состав АЭС оценивался как RO-(EO)n-ТАК3На+На+(Р=С12H25, C14H29, ЭО – оксид этилена).
При масс-спектре рисунка. 1а визуализировалась на графике КМД (рис. 1б), можно было идентифицировать две группы (окрашенные зеленым и красным цветом).
Красная и зеленая группы — это POEAE и AES соответственно. Ряд полимеров, содержащий элементы с большими массовыми дефектами, появляется в верхней части графика КМД из-за больших значений КМД. Следовательно, АЭС, содержащие сульфат ( SO3Na) концевые группы были нанесены на верхнюю часть графика KMD. Преимуществом является использование графика КМД, который позволяет легко разделить полимерные группы, содержащие концевые группы со значительно различающимся составом элементов в комплексном масс-спектре.

Рис. 1. Масс-спектр положительных ионов (а) и кривая КМД (б) моющего средства, содержащего АЭС и ПОЭАЭ.

Рисунок 1. Масс-спектр положительных ионов (а) и график КМД (б) моющего средства, содержащего АЭС и ПОЭАЭ.

Результат измерения: режим отрицательных ионов

На рис. 2 показан масс-спектр (а) и график КМД (б) (базовый блок C2H4O) в режиме отрицательных ионов. В режиме отрицательных ионов наблюдались только две полимерные серии. В результате оценки состава было установлено, что RO-(EO)n-ТАК3-(Р=С12H25, C14H29, ЭО – оксид этилена). Было обнаружено, что АЭС можно избирательно наблюдать при измерении в режиме отрицательных ионов. Кроме того, спектр ионов-продуктов м / г 777.5, 793.5, выбранные из каждой серии, были получены в режиме TOF-TOF. В спектре ионов-продуктов ионы наблюдались при м / г 80, 97, которые соответствуют SO3- так что4H-, предполагая, что обе серии имеют сульфатную концевую группу. Кроме того, в спектрах ионов-продуктов наблюдались нейтральные потери 198u и 170u. м / г 777.5 и 793.5 соответственно. Они соответствовали С14H30 и C12H26, предполагая, что другие концевые группы представляют собой алкильные цепи.

Обзор

AES наблюдали как RO-(EO)n-SO3На+На+ в режиме положительных ионов. Если образец содержит АЭС и ПОЭАЭ, масс-спектр будет сложным, поскольку оба они могут быть ионизированы в режиме положительных ионов. С другой стороны, AES был селективно ионизирован в режиме отрицательных ионов. Кроме того, концевые группы оценивались в режиме TOF-TOF с отрицательными ионами. Выяснилось, что если в образце содержатся анионные ПАВ, такие как АЭС, стоит попытаться подтвердить их наличие и провести структурный анализ в режиме отрицательных ионов.

Рис. 2. Масс-спектр отрицательных ионов (а) и кривая КМД (б) моющего средства, содержащего АЭС и ПОЭАЭ.

Рис. 2. Масс-спектр отрицательных ионов (а) и кривая КМД (б) моющего средства, содержащего АЭС и ПОЭАЭ.

Рис. 3. Масс-спектры ионов-продуктов отрицательных ионов двух типов АЭС.

Рис. 3. Масс-спектры ионов-продуктов отрицательных ионов двух типов АЭС.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 576.7 KB

Решения по областям применения

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!