Журнал применения полимерных материалов серии JMS-S3000 SpiralTOF™

This is a compendium of polymeric materials applications notes and JEOL News articles based on the data acquired on JEOL ultra-high mass-resolution MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF™ series.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

Содержание

Co-polymers / Co-oligomers　P1〜

• High-Resolution MALDI-TOFMS Measurement and KMD Analysis for Visualization of Polymers Fractionated by Reversed-Phase LC (MSTips No. 503)
• Analysis of multicomponent polyesters using JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus3.0” and Kendrick Mass Defect (KMD) analysis (MSTips No. 484)
• Анализ соотношения состава ЭО/ПО в сополимере ЭО-ПО с использованием JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" и "msRepeatFinder" (MSTips № 471)
• Структурный анализ сополимеров ЭО-ПО с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и ЯМР (MSTips № 423)
• Анализ состава сополимеров ЭО-ПО с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder V6» (MSTips № 399)
• Графики KMD «фракционной базы» для сополиэфира поли(3-гидроксибутират-со-3-гидроксивалерат) с высокой молекулярной массой после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™ (MSTips № 284)
• Анализ статистического сополимера ЭО-ПО с использованием традиционной ВЭЖХ и MALDI SpiralTOF™ MS (MSTips № 203)
• Детальная структурная характеристика полимеров с помощью MALDI-TOFMS со спиральной траекторией ионов (Сато, Х., JEOL News, 50, 46-52, 2015)
• MALDI SpiralTOF high-resolution mass spectrometry and Kendrick mass defect analysis applied to the characterization of poly(ethylene-co-vinyl acetate) copolymers (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 - 981, 2016)

Полимеры / Олигомеры P43〜

• An attempt at end-group analysis of polycarbonates up to 100,000 molecular weight using SEC preparative separation and NewSpiralTOF™ (MSTips No. 527)
• Combining JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" and size exclusion chromatography to analyze the end groups of high dispersity synthetic polymers and visualizing changes in the end groups (MSTips No. 495)
• Оценка УФ-деградации полимеров: исследование полиэтилентерефталата с использованием MALDI-TOFMS и GC-TOFMS
• Дифференциальный анализ полиэтилентерефталата, деградированного под действием УФ-излучения, с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder» (MSTips № 422)
• Структурный анализ полиэтилентерефталатов с различной кристалличностью с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 407)
• Анализ концевых групп полиметилметакрилата с использованием MALDI-TOFMS и GC-TOFMS (MSTips № 404)
• Анализ mPEG5K-фосфата с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 402)
• Определение элементного состава концевых групп полимера с использованием точной массы (MSTips № 357)
• Структурный анализ анионных поверхностно-активных веществ в режиме отрицательных ионов MALDI с использованием «SpiralTOF™-plus» (MSTips № 333)
• Анализ деградированного полиметилметакрилата под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 324)
• Анализ деградированного полистирола под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 322)
• Структурный анализ полиэтилентерефталата, сочетающий метод щелочной деградации на пластине и тандемную времяпролетную масс-спектрометрию (MSTips № 311)
• “Fraction base” KMD plots for a high molecular weight poly(3-hydroxybutyrate) polyester following its on-plate alkaline degradation and SpiralTOF™ analysis" (MSTips No. 283)
• Visualizing fragmentation channels of polyethylene oxide with different end groups using the JMS-S3000 SpiralTOF™ with TOF-TOF option (MSTips No. 279)
• График «Остатки КМ» для полимеров с использованием msRepeatFinder: интуитивно понятное отображение масс-спектров диссоциации, вызванной столкновениями при высоких энергиях, полученных с помощью SpiralTOF™/TOF (MSTips № 270)
• График «Остатки КМ» для полимеров с использованием msRepeatFinder: композиционное картирование в широком диапазоне масс (MSTips № 269)
• Анализ низкомолекулярного полиэтилена методом без растворителя с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 235)
• Analysis of cyanoacrylate adhesive using the JMS-S3000 “SpiralTOF™” ― Application of Kendrick Mass Defect plot analysis ― (MSTips No. 220)
• Измерение дендритного эталонного стандарта МС
• Анализ стандартов высокомолекулярного полистирола с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией Linear TOF (MSTips № 199)
• Измерение синтетических полимеров [1]: полистирол (MSTips № 163).
• Измерение синтетических полимеров [2]: Полиметилметакрилат (MSTips № 164).
• Измерение синтетических полимеров [3]: полиэтиленгликоль (MSTips № 165).

Полимерные добавки P109〜

• Structure analysis of a polymer additive using high-energy collision-induced dissociation mass spectra acquired by JMS-S3000 with TOF/TOF option (MSTips No. 254)
• MALDI для анализа полимеров: синтетические полимеры и добавки (MSTips № 205)

Масс-спектрометрическая визуализация P115〜

• Анализ деградации полиэтилентерефталатной пленки под действием УФ-облучения с использованием визуализирующей масс-спектрометрии и сканирующей электронной микроскопии (HS05)
• Mass spectrometry imaging for degradation of polyethylene terephthalate by UV irradiation using JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” (MSTips No. 307)
• Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров в сочетании с анализом массовых дефектов Кендрика (MSTips № 306).
• Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров с использованием средней молекулярной массы и полидисперсности в качестве показателей. (MSTips № 305)
• Масс-спектрометрическая визуализация на смешанной проводящей/непроводящей подложке с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ (MSTips № 288)
• Analysis of organic compounds on an acrylic plate using JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips No. 251)
• Анализ чернил шариковой ручки с использованием изображений LDI и методов SEM/EDS (MSTips № 204)
• Анализ остатков огнестрельного оружия (GSR) с использованием MALDI Imaging
• Analysis of Organic Thin Films by the Laser Desorption/Ionization Method Using the JMS-S3000 “SpiralTOF™” (Satoh, T., JEOL News, 49, 81-88, 2014)

Details of the hardware and software　P149〜

• Mass Spectrometry Imaging using the JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” Matrix Assisted Laser Desorption Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometer (Takaya Satoh, JEOL News, 55, 70-72, 2020)
• Разработка JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF с использованием спиральной траектории ионов (Такая Сато, JEOL News, 45, 34-37, 2010 г.)
• Разработка метода извлечения пиков из масс-спектра MALDI-TOF высокого разрешения с помощью машинного обучения с упором на форму пика и его применение к анализу синтетических полимеров (MSTips № 352)
• Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью определения массы (MSTips № 206)
• High Mass Resolution MALDI-Imaging MS - High Stability of Peak Position during Imaging MS Measurement (MSTips No. 193)

Решения по областям применения

Химия

Пластмассы / Полимеры

Медицина

Другое

Сопутствующие продукты

Времяпролетный масс-спектрометр с матричной лазерной ионизацией (MALDI-TOFMS)