Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Блокнот серии JMS-S3000 SpiralTOF™ «Полимеры, материалы и химические приложения»

Издание август 2023 г.

Это сборник заметок по применению изображений масс-спектрометрии и статей JEOL News, основанных на данных, полученных с помощью серии MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением JMS-S3000 SpiralTOF™ компании JEOL.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

Содержание

Введение и основы P1〜

  • Разработка JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF с использованием спиральной траектории ионов (Такая Сато, JEOL News, 45, 34-37, 2010 г.)

  • Разработка метода извлечения пиков из масс-спектра MALDI-TOF высокого разрешения с помощью машинного обучения с упором на форму пика и его применение к анализу синтетических полимеров (MSTips № 352)

  • Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью определения массы (MSTips № 206)

Синтетические полимеры

Спиральный режим/Линейный режим P15〜

  • Дифференциальный анализ полиэтилентерефталата, разлагаемого УФ-излучением, с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder» (MSTips № 422)

  • Анализ mPEG5K-фосфата с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 402)

  • Определение элементного состава концевых групп полимера с использованием точной массы (MSTips № 357)

  • Структурный анализ анионных ПАВ в режиме отрицательных ионов MALDI с использованием «SpiralTOF™-plus» (MSTips № 333)

  • Анализ деградированного полиметилметакрилата под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 324)

  • Анализ деградированного полистирола под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 322)

  • Графики KMD «основания фракции» для высокомолекулярного сополиэфира поли(3-гидроксибутират-ко-3-гидроксивалерат) после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™ (MSTips № 284)

  • Графики KMD «основания фракции» для полиэфира поли(3-гидроксибутират) с высокой молекулярной массой после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™» (MSTips № 283)

  • График «Остатки KM» для полимеров с использованием msRepeatFinder: картирование состава в широком диапазоне масс (MSTips № 269)

  • Анализ низкомолекулярного полиэтилена методом без растворителей с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 235)

  • Анализ цианоакрилатного клея с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» — применение анализа графика дефектов массы Кендрика — (MSTips № 220)

  • Измерение дендритного эталонного стандарта МС

  • Анализ статистического сополимера ЭО-ПО с использованием традиционной ВЭЖХ и MALDI SpiralTOF™ MS (MSTips № 203)

  • Анализ стандартов высокомолекулярного полистирола с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией Linear TOF (MSTips № 199)

  • Измерение синтетических полимеров [1]: полистирол (MSTips № 163).

  • Измерение синтетических полимеров [2]: Полиметилметакрилат (MSTips № 164).

  • Измерение синтетических полимеров [3]: полиэтиленгликоль (MSTips № 165).

  • Детальная структурная характеристика полимеров с помощью MALDI-TOFMS со спиральной траекторией ионов (Сато, Х., JEOL News, 50, 46-52, 2015)

  • Масс-спектрометрия высокого разрешения MALDI SpiralTOF™ и анализ массовых дефектов Кендрика, применяемые для характеристики сополимеров поли(этилен-винилацетат) (Фуке Т., Накамура С. и Сато Х., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 – 981, 2016)

Режим TOF-TOF (МС/МС) P77〜

  • Структурный анализ полиэтилентерефталата, сочетающий метод щелочной деградации на пластине и тандемную времяпролетную масс-спектрометрию (MSTips № 311)

  • Визуализация каналов фрагментации полиэтиленоксида с различными концевыми группами с помощью JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией TOF-TOF (MSTips № 279)

  • График «Остатки KM» для полимеров с использованием msRepeatFinder: интуитивно понятное отображение масс-спектров диссоциации, вызванной высокоэнергетическими столкновениями, полученных с помощью SpiralTOF™/TOF (MSTips № 270).

Полимерные добавки P89〜

  • Анализ структуры полимерной добавки с использованием масс-спектров диссоциации, вызванной высокоэнергетическими столкновениями, полученных с помощью JMS-S3000 с опцией TOF/TOF (MSTips № 254)

  • MALDI для анализа полимеров: синтетические полимеры и добавки (MSTips № 205)

Органическая химия / Малые молекулы P95〜

  • Измерение бороксинового клетки с помощью JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 369)

  • Структурный анализ небольшой молекулы с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» ー MS/MS-измерение продукта фотодеградации резерпина ー (MSTips № 365)

  • Анализ лечебных свойств комбинированного средства от простуды с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 241)

  • MALDI для анализа малых молекул: триазиновые пестициды

  • Высокоэнергетический CID MS-MS анализ малых органических молекул (MSTips № 173)

  • MALDI для анализа малых молекул: сложная смесь лекарств

  • Точное измерение массы малых органических молекул с помощью JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 168)

Решения по областям применения

Возможно вам понравится

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!