Ноутбук для применения полимерных материалов серии JMS-S3000 SpiralTOF™

Это сборник заметок по применению изображений масс-спектрометрии и статей JEOL News, основанных на данных, полученных с помощью серии MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением JMS-S3000 SpiralTOF™ компании JEOL.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

Содержание

Введение и основы P1〜

• Разработка JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF с использованием спиральной траектории ионов
  (Такая Сато, JEOL News, 45, 34-37, 2010)

• Разработка метода извлечения пиков из масс-спектра MALDI-TOF высокого разрешения с помощью машинного обучения с упором на форму пика и его применение к анализу синтетических полимеров (MSTips № 352)

• Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью определения массы (MSTips № 206)

Полимеры / Олигомеры P15〜

• Оценка УФ-деградации полимеров: исследование полиэтилентерефталата с использованием MALDI-TOFMS и GC-TOFMS

• Анализ соотношения состава ЭО/ПО в сополимере ЭО-ПО с использованием JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" и "msRepeatFinder" (MSTips № 471)

• Структурный анализ сополимеров ЭО-ПО с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и ЯМР (MSTips № 423)

• Дифференциальный анализ полиэтилентерефталата, деградированного под действием УФ-излучения, с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder» (MSTips № 422)

• Структурный анализ полиэтилентерефталатов с различной кристалличностью с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 407)

• Анализ концевых групп полиметилметакрилата с использованием MALDI-TOFMS и GC-TOFMS (MSTips № 404)

• Анализ mPEG5K-фосфата с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 402)

• Анализ состава сополимеров ЭО-ПО с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder V6» (MSTips № 399)

• Определение элементного состава концевых групп полимера с использованием точной массы (MSTips № 357)

• Структурный анализ анионных поверхностно-активных веществ в режиме отрицательных ионов MALDI с использованием «SpiralTOF™-plus» (MSTips № 333)

• Анализ деградированного полиметилметакрилата под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 324)

• Анализ деградированного полистирола под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 322)

• Структурный анализ полиэтилентерефталата, сочетающий метод щелочной деградации на пластине и тандемную времяпролетную масс-спектрометрию (MSTips № 311)

• Графики KMD «фракционной базы» для сополиэфира поли(3-гидроксибутират-со-3-гидроксивалерат) с высокой молекулярной массой после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™ (MSTips № 284)

• «Фракционные базовые» графики KMD для поли(3-гидроксибутирата) полиэфира с высокой молекулярной массой после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™ (MSTips № 283)

• Визуализация каналов фрагментации полиэтиленоксида с различными концевыми группами с помощью JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией TOF-TOF (MSTips № 279)

• График «Остатки КМ» для полимеров с использованием msRepeatFinder: интуитивно понятное отображение масс-спектров диссоциации, вызванной столкновениями при высоких энергиях, полученных с помощью SpiralTOF™/TOF (MSTips № 270)

• График «Остатки КМ» для полимеров с использованием msRepeatFinder: композиционное картирование в широком диапазоне масс (MSTips № 269)

• Анализ низкомолекулярного полиэтилена методом без растворителя с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 235)

• Анализ цианоакрилатного клея с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™»
  ― Применение анализа графика дефекта массы Кендрика ― (MSTips № 220)

• Измерение дендритного эталонного стандарта МС

• Анализ статистического сополимера ЭО-ПО с использованием традиционной ВЭЖХ и MALDI SpiralTOF™ MS (MSTips № 203)

• Анализ стандартов высокомолекулярного полистирола с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией Linear TOF (MSTips № 199)

• Измерение синтетических полимеров [1]: полистирол (MSTips № 163).

• Измерение синтетических полимеров [2]: Полиметилметакрилат (MSTips № 164).

• Измерение синтетических полимеров [3]: полиэтиленгликоль (MSTips № 165).

• Детальная структурная характеристика полимеров с помощью MALDI-TOFMS со спиральной траекторией ионов (Сато, Х., JEOL News, 50, 46-52, 2015)

• Масс-спектрометрия высокого разрешения MALDI SpiralTOF и анализ дефектов массы Кендрика, применяемые для характеристики сополимеров поли(этилен-со-винилацетата) (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973–981, 2016)

Полимерные добавки P109〜

• Анализ структуры полимерной добавки с использованием масс-спектров диссоциации, вызванной высокоэнергетическими столкновениями, полученных с помощью JMS-S3000 с опцией TOF/TOF (MSTips № 254)

• MALDI для анализа полимеров: синтетические полимеры и добавки (MSTips № 205)

Решения по областям применения

Химия

Пластмассы / Полимеры

Лекарственное средство

Другое

Сопутствующие

Времяпролетный масс-спектрометр с матричной лазерной ионизацией (MALDI-TOFMS)