Справочник по применению полимерных материалов серии JMS-S3000 SpiralTOF™ | Прикладные заметки

Это сборник заметок по применению полимерных материалов и статей из новостного раздела JEOL, основанный на данных, полученных с помощью масс-спектрометра JEOL JMS-S3000 SpiralTOF™ серии с ультравысоким разрешением по массе.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 23.6 МБ

Содержание

Сополимеры/Соолигомеры P1〜

Высокоразрешающее измерение MALDI-TOFMS и анализ KMD для визуализации полимеров, фракционированных методом обращенно-фазовой жидкостной хроматографии (MSTips № 503)
Анализ многокомпонентных полиэфиров с использованием прибора JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus3.0” и анализа дефекта массы Кендрика (KMD) (MSTips № 484).
Анализ соотношения состава ЭО/ПО в сополимере ЭО-ПО с использованием JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" и "msRepeatFinder" (MSTips № 471)
Структурный анализ сополимеров ЭО-ПО с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и ЯМР (MSTips № 423)
Анализ состава сополимеров ЭО-ПО с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder V6» (MSTips № 399)
Графики KMD «фракционной базы» для сополиэфира поли(3-гидроксибутират-со-3-гидроксивалерат) с высокой молекулярной массой после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™ (MSTips № 284)
Анализ статистического сополимера ЭО-ПО с использованием традиционной ВЭЖХ и MALDI SpiralTOF™ MS (MSTips № 203)
Детальная структурная характеристика полимеров с помощью MALDI-TOFMS со спиральной траекторией ионов (Сато, Х., JEOL News, 50, 46-52, 2015)
Масс-спектрометрия высокого разрешения MALDI SpiralTOF и анализ дефекта массы Кендрика, применяемые для характеристики сополимеров поли(этилен-со-винилацетата) (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 - 981, 2016)

Полимеры / Олигомеры P43〜

Попытка анализа концевых групп поликарбонатов с молекулярной массой до 100 000 с использованием препаративной хроматографии с эксклюзионной хроматографией и прибора NewSpiralTOF™ (MSTips № 527).
Сочетание прибора JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" и эксклюзионной хроматографии для анализа концевых групп высокодисперсных синтетических полимеров и визуализации изменений в концевых группах (MSTips № 495)
Оценка УФ-деградации полимеров: исследование полиэтилентерефталата с использованием MALDI-TOFMS и GC-TOFMS
Дифференциальный анализ полиэтилентерефталата, деградированного под действием УФ-излучения, с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder» (MSTips № 422)
Структурный анализ полиэтилентерефталатов с различной кристалличностью с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 407)
Анализ концевых групп полиметилметакрилата с использованием MALDI-TOFMS и GC-TOFMS (MSTips № 404)
Анализ mPEG5K-фосфата с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus 2.0» (MSTips № 402)
Определение элементного состава концевых групп полимера с использованием точной массы (MSTips № 357)
Структурный анализ анионных поверхностно-активных веществ в режиме отрицательных ионов MALDI с использованием «SpiralTOF™-plus» (MSTips № 333)
Анализ деградированного полиметилметакрилата под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 324)
Анализ деградированного полистирола под действием УФ-облучения с использованием MALDI-TOFMS высокого разрешения и пиролиз-GC-QMS (MSTips № 322)
Структурный анализ полиэтилентерефталата, сочетающий метод щелочной деградации на пластине и тандемную времяпролетную масс-спектрометрию (MSTips № 311)
Графики KMD «Фракционное основание» для полиэстера поли(3-гидроксибутирата) с высокой молекулярной массой после его щелочной деградации на пластине и анализа SpiralTOF™» (MSTips № 283)
Визуализация каналов фрагментации полиэтиленоксида с различными концевыми группами с помощью прибора JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией TOF-TOF (MSTips № 279)
График «Остатки КМ» для полимеров с использованием msRepeatFinder: интуитивно понятное отображение масс-спектров диссоциации, вызванной столкновениями при высоких энергиях, полученных с помощью SpiralTOF™/TOF (MSTips № 270)
График «Остатки КМ» для полимеров с использованием msRepeatFinder: композиционное картирование в широком диапазоне масс (MSTips № 269)
Анализ низкомолекулярного полиэтилена методом без растворителя с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 235)
Анализ цианоакрилатного клея с использованием прибора JMS-S3000 “SpiralTOF™” ― Применение анализа по методу Кендрика ― (MSTips № 220)
Измерение дендритного эталонного стандарта МС
Анализ стандартов высокомолекулярного полистирола с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ с опцией Linear TOF (MSTips № 199)
Измерение синтетических полимеров [1]: полистирол (MSTips № 163).
Измерение синтетических полимеров [2]: Полиметилметакрилат (MSTips № 164).
Измерение синтетических полимеров [3]: полиэтиленгликоль (MSTips № 165).

Полимерные добавки P109〜

Структурный анализ полимерной добавки с использованием масс-спектров, полученных методом высокоэнергетической столкновительной диссоциации с помощью прибора JMS-S3000 с опцией TOF/TOF (MSTips № 254).
MALDI для анализа полимеров: синтетические полимеры и добавки (MSTips № 205)

Масс-спектрометрическая визуализация P115〜

Анализ деградации полиэтилентерефталатной пленки под действием УФ-облучения с использованием визуализирующей масс-спектрометрии и сканирующей электронной микроскопии (HS05)
Масс-спектрометрическая визуализация для определения степени разложения полиэтилентерефталата под воздействием УФ-излучения с использованием масс-спектрометра JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” (MSTips № 307).
Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров в сочетании с анализом массовых дефектов Кендрика (MSTips № 306).
Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров с использованием средней молекулярной массы и полидисперсности в качестве показателей. (MSTips № 305)
Масс-спектрометрическая визуализация на смешанной проводящей/непроводящей подложке с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ (MSTips № 288)
Анализ органических соединений на акриловой пластине с использованием прибора JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips № 251)
Анализ чернил шариковой ручки с использованием изображений LDI и методов SEM/EDS (MSTips № 204)
Анализ остатков огнестрельного оружия (GSR) с использованием MALDI Imaging
Анализ органических тонких пленок методом лазерной десорбции/ионизации с использованием прибора JMS-S3000 “SpiralTOF™” (Сато, Т., JEOL News, 49, 81-88, 2014)

Подробная информация об аппаратном и программном обеспечении P149〜

Масс-спектрометрическая визуализация с использованием времяпролетного масс-спектрометра JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” с матрично-ассистированной лазерной десорбционной ионизацией (Такая Сато, JEOL News, 55, 70-72, 2020)
Разработка JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF с использованием спиральной траектории ионов (Такая Сато, JEOL News, 45, 34-37, 2010 г.)
Разработка метода извлечения пиков из масс-спектра MALDI-TOF высокого разрешения с помощью машинного обучения с упором на форму пика и его применение к анализу синтетических полимеров (MSTips № 352)
Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью определения массы (MSTips № 206)
Масс-спектрометрия с MALDI-изображением и высоким разрешением по массе — высокая стабильность положения пика во время измерения методом масс-спектрометрии с визуализацией (MSTips № 193)