Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

JMS-S3000 SpiralTOF™ series Ноутбук для приложений обработки изображений

Издание август 2023 г.

Это сборник заметок по применению изображений масс-спектрометрии и статей JEOL News, основанных на данных, полученных с помощью серии MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением JMS-S3000 SpiralTOF™ компании JEOL.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

Содержание

Введение и основы P1~

  • Масс-спектрометрическая визуализация с использованием времяпролетного масс-спектрометра с матричной лазерной десорбцией и ионизацией JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus" (Такая Сато, JEOL News, 55, 70-72, 2020)

  • Разработка JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF с использованием спиральной траектории ионов (Такая Сато, JEOL News, 45, 34-37, 2010 г.)

  • МС с высоким массовым разрешением MALDI-Imaging MS – высокая стабильность положения пика во время измерения с помощью МС-визуализации (MSTips № 193)

  • Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью определения массы (MSTips № 206)

Науки о жизни / Биомолекулы P17〜

  • МС-визуализация с высоким массовым разрешением с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» и статистического анализа данных (MSTips № 370).

  • МС-изображение MALDI с высоким массовым разрешением для определения метаболизма лекарств в тканях с использованием JMS-S3000 (MSTips № 212)

  • МС-изображение MALDI с высоким массовым разрешением с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ и msMicroImager (MSTips № 211)

  • Анализ отпечатков пальцев с использованием изображений MALDI и SEM (MSTips № 208)

  • MALDI-визуализация МС липидов на срезах тканей головного мозга мыши с использованием режима отрицательных ионов (MSTips № 196)

Полимеры/Материалы P35〜

  • Анализ деградации полиэтилентерефталатной пленки под действием УФ-облучения с использованием визуализирующей масс-спектрометрии и сканирующей электронной микроскопии (HS05)

  • Масс-спектрометрическая визуализация разложения полиэтилентерефталата под действием УФ-излучения с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus» (MSTips № 307)

  • Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров в сочетании с анализом массовых дефектов Кендрика (MSTips № 306).

  • Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров с использованием средней молекулярной массы и полидисперсности в качестве показателей. (MSTips № 305)

  • Масс-спектрометрическая визуализация на смешанной проводящей/непроводящей подложке с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ (MSTips № 288)

  • Анализ органических соединений на акриловой пластинке с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 251)

  • Анализ чернил шариковой ручки с использованием изображений LDI и методов SEM/EDS (MSTips № 204)

  • Анализ остатков огнестрельного оружия (GSR) с использованием MALDI Imaging

  • Анализ органических тонких пленок методом лазерной десорбции/ионизации с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (Сато Т., JEOL News, 49, 81-88, 2014 г.)

Решения по областям применения

Возможно вам понравится

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!