JMS-S3000 SpiralTOF™ series Ноутбук для приложений обработки изображений

Это сборник заметок по применению изображений масс-спектрометрии и статей JEOL News, основанных на данных, полученных с помощью серии MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением JMS-S3000 SpiralTOF™ компании JEOL.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

Содержание

Введение и основы P1～

• Масс-спектрометрическая визуализация с использованием времяпролетного масс-спектрометра с матричной лазерной десорбцией и ионизацией JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus" (Такая Сато, JEOL News, 55, 70-72, 2020)

• Разработка JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF с использованием спиральной траектории ионов (Такая Сато, JEOL News, 45, 34-37, 2010 г.)

• МС с высоким массовым разрешением MALDI-Imaging MS – высокая стабильность положения пика во время измерения с помощью МС-визуализации (MSTips № 193)

• Взаимосвязь между состоянием кристалла и разрешающей способностью массы, точностью определения массы (MSTips № 206)

Науки о жизни / Биомолекулы P17〜

• МС-визуализация с высоким массовым разрешением с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» и статистического анализа данных (MSTips № 370).

• МС-изображение MALDI с высоким массовым разрешением для определения метаболизма лекарств в тканях с использованием JMS-S3000 (MSTips № 212)

• МС-изображение MALDI с высоким массовым разрешением с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ и msMicroImager (MSTips № 211)

• Анализ отпечатков пальцев с использованием изображений MALDI и SEM (MSTips № 208)

• MALDI-визуализация МС липидов на срезах тканей головного мозга мыши с использованием режима отрицательных ионов (MSTips № 196)

Полимеры/Материалы P35〜

• Анализ деградации полиэтилентерефталатной пленки под действием УФ-облучения с использованием визуализирующей масс-спектрометрии и сканирующей электронной микроскопии (HS05)

• Масс-спектрометрическая визуализация разложения полиэтилентерефталата под действием УФ-излучения с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus» (MSTips № 307)

• Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров в сочетании с анализом массовых дефектов Кендрика (MSTips № 306).

• Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров с использованием средней молекулярной массы и полидисперсности в качестве показателей. (MSTips № 305)

• Масс-спектрометрическая визуализация на смешанной проводящей/непроводящей подложке с использованием JMS-S3000 SpiralTOF™ (MSTips № 288)

• Анализ органических соединений на акриловой пластинке с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (MSTips № 251)

• Анализ чернил шариковой ручки с использованием изображений LDI и методов SEM/EDS (MSTips № 204)

• Анализ остатков огнестрельного оружия (GSR) с использованием MALDI Imaging

• Анализ органических тонких пленок методом лазерной десорбции/ионизации с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™» (Сато Т., JEOL News, 49, 81-88, 2014 г.)

Решения по областям применения

Химия

Еда / Растения

Окружающая среда

Сопутствующие

Времяпролетный масс-спектрометр с матричной лазерной ионизацией (MALDI-TOFMS)