Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Анализ структуры полимерной добавки с использованием масс-спектров диссоциации, вызванной высокоэнергетическими столкновениями, полученных с помощью JMS-S3000 с опцией TOF/TOF [Приложение MALDI]

MSTips №254

В полимере используются различные виды добавок, такие как антиоксидант, светостабилизатор и поглотитель ультрафиолета. Поскольку свойства полимера зависят от добавок в сырье, важно понимать эти добавки. Времяпролетный масс-спектрометр с лазерной десорбцией/ионизацией с поддержкой матрицы (MALDI-TOFMS) JMS-S3000 SpiralTOF™ широко используется в анализе полимеров. Измерение высокоэнергетической диссоциации, индуцированной столкновением (HE-CID) с опцией TOF/TOF, также полезно при анализе структуры добавок.
SpiralTOF™ позволяет добиться высокой селекции ионов-предшественников с числом оборотов 17 м. Фрагментацию, происходящую от HE-CID, можно наблюдать только из-за ионов от распада после источника (PSD), эти ионы-фрагменты могут быть устранены четырьмя электростатическими секторами, составляющими спиральную траекторию. В этом примечании по применению мы сообщаем о структурном анализе полимера путем сравнения моделей фрагментации в спектрах ионов-продуктов IRGANOX 1076 (BASF) M. и [М+На]+.

Эксперимент

Для образца мы использовали добавку IRGANOX 1076 (10 мг/мл в тетрагидрофуране [ТГФ]) в коммерчески доступном наборе добавок. В качестве матрицы использовали 2,5-гидроксибензойную кислоту (ДГБ; 20 мг/мл в ТГФ). Измерения HE-CID проводились для всех видов ионов (M и [М+На]+), подтвержденный масс-спектром, и были получены спектры ионов-продуктов.

Итоги

Масс-спектр IRGANOX 1076 показан на рисунке 1. Мы наблюдали ионы, соответствующие M и [М+На]+ at м / г 530 и 553 соответственно. Для получения спектра ионов-продуктов были выбраны два вида моноизотопных ионов.

Масс-спектр IRGANOX 1076
Рисунок 1. Масс-спектр IRGANOX 1076.

Спектры ионов продукта IRGANOX 1076 м / г 530.5 (М) и расширение м / г 553 ([М+Na]+), измеренные с помощью HE-CID, показаны на рисунке 2 (a) и (b). Мы сравнили каналы фрагментации обоих типов ионов. Пики, наблюдаемые ниже м / г 219 обозначены красной пунктирной линией, общие каналы фрагментации от Mи [М+На]+ сплошной красной линией. Мы оценили пики как осколочные ионы без натрия. В частности, пик на м / г 219 был оценен как осколочный ион с фенольной стороны с трет-бутильной группой (t-Bu). Те, которые наблюдались в м / г 233 и 259 на рис. 2(а) и (б) имеют разность масс 23 ед. Понятно, что эти осколочные ионы указывают на один и тот же канал фрагментации от M и [М+На]+. Кроме того, в спектре ионов-продуктов [M+Na]+, мы наблюдали пики с интервалом 14 u на м / г 320–540. Эти пики были получены из расщепления алкильной цепи с помощью фрагментации с дистанционным зарядом (CRF), которая характерна для HE-CID. Мы регулярно наблюдали различия в массе с интервалом в 14 u, что свидетельствует об отсутствии ненасыщенной связи в алкильной цепи.

Выводы

Получение спектров ионов-продуктов различных видов ионов одного и того же соединения, наблюдаемых в масс-спектре, эффективно двумя способами. Во-первых, ионный состав осколочных ионов можно оценить путем сравнения разности масс пиков, появляющихся в спектре ионов-продуктов, что помогает в структурном анализе. Во-вторых, с помощью CRF можно наблюдать фрагментацию алкильной цепи.

Спектры ионов продукта IRGANOX 1076 с различными видами ионов
Рисунок 2 Спектры ионов продуктов IRGANOX 1076 с различными видами ионов, (а) м / г 530 M. (б): м / г 553 [М+На]+.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 612.9KB

Решения по областям применения

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!