Держатель образца

Это адаптер для стандартного держателя образца серии JSM-F сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией. Одновременная установка 3 разных образцов на этот адаптер снижает частоту замены образцов и обеспечивает лучшую технологичность.

Особенность

◇Этот адаптер позволяет одновременно монтировать 3 подставки для образцов размером 12.5Φ.

◇ Два установочных винта для каждого блока крепят их сбоку.
◇ Прорези глубиной 4 мм для каждого порта позволяют пинцету захватывать блок.
◇ Регулируется по высоте образца:
Диапазон от -2мм до +4мм
(относительно верхней поверхности держателя образца для блока высотой 10 мм)

Меры предосторожности

• В FESEM высота образца обычно устанавливается равной высоте верхней поверхности держателя образца, чтобы избежать контакта с внутренними компонентами. Если образец выступает из держателя, обратите внимание на настройку и работу устройства. Помните также о контакте с детектором обратно рассеянных электронов.

• Кольцо стандартного держателя должно быть отсоединено от держателя образца 32 ммΦ для установки этого адаптера.

об использовании

1) Отсоедините кольцо.
2) Присоедините подставку для установки образца к адаптеру и установите адаптер на стандартный держатель после регулировки высоты адаптера.

Пример) Для JSM-6500F P/N: 804410496

Размер

Поддерживаемые модели

ДЖСМ-6300Ф/6301Ф/6400Ф/6401Ф/6330Ф/6335Ф/6340Ф/6500Ф/6700Ф/6701Ф
ДЖСМ-7000Ф/7001Ф/7100Ф/7200Ф/7400Ф/7401Ф/7500Ф/7600Ф/7610Ф/7800Ф
Серия JXA

• Доступно для моделей SEM, отличных от указанных выше, при наличии держателя диаметром 32 мм.

• Не рекомендуется для серии JIB-4600F, так как возможны некоторые проблемы с процессом.

Информация для заказа

Другие контрактные услуги

Имейте в виду, что держатель 32 ммΦ различается в зависимости от типа основного устройства.