JSX-3400RII Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр
СНЯТО
Рентгенофлуоресцентный спектрометр, оснащенный высокочувствительным Si (Li) полупроводниковым детектором с жидким азотом высокого разрешения.
Особенности
JSX-3400RII — это XRF-прибор общего назначения, в котором используется детектор типа жидкого азота с отличным соотношением цены и качества.
В JSX-3400RII используется детектор Si(Li) с высокой чувствительностью к тяжелым элементам, оптическая система с импульсным траекторием, которая была раньше, чем машина, и специальный фильтр. JSX-3400RⅡ может измерять микроэлементы за короткое время.
Разрешение детектора JSX-3400RⅡ высокое, поэтому он может очень четко разделять пики легких элементов, таких как Mg, Al и Si.
Количественный анализ проводится без стандартного вещества и просто методом ФП (метод фундаментальных параметров).
Так как коллиматор 1 ммфи оснащен стандартно, он может анализировать даже мельчайшие посторонние вещества.
JSX-3400RII имеет реалистичную функцию пиковой суммы в качестве стандарта, а качественный анализ прост.
Если используется дополнительное программное обеспечение Sum-Peak Removal, мы еще больше повысим точность метода количественного анализа.
Тонкопленочный метод FP может анализировать толщину и состав
каждого слоя в многослойной тонкой пленке, такой как композитное покрытие, покрытие из сплава без эталонных образцов.
Характеристики
| Диапазон элемента обнаружения | от На до У |
|---|---|
| Рентгеновский генератор | от 5 до 50 кВ 1 мА 50 Вт |
| цель | Rh |
| ФИЛЬТР | четырехпозиционный автоматический обмен (включить открытый) |
| Коллиматор | 1ｍｍ/3ｍｍ/7ｍｍ |
| Детектор | Si(Li) полупроводниковый детектор |
| Жидкий азот | 3л дьюара, расход 1л/день |
| Размер камеры образца | Диаметр 300 мм x 150 мм (В) |
| Атмосфера в камере для образцов | Воздух (вакуум: опция) |
| Персональный компьютер | ОС: Windows®7
Жидкокристаллический дисплей Цветной принтер |
| Программное обеспечение для георадаров | Анализ RoHS: 5-элементный анализ пластика, 5-элементный анализ металлических материалов, программное обеспечение для составления отчетов о результатах анализа
Общий анализ: метод объемного ФП, метод тонкопленочного ФП, метод калибровочной кривой |
| Программное обеспечение для обслуживания | Программное обеспечение для калибровки приборов, стартер JSX |
| Предоставленные образцы | Образец калибровки энергии , Образец проверки прибора , Стандартный образец интенсивности |
Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.