JSX-3100RII Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр
СНЯТО
Рентгенофлуоресцентный спектрометр, оснащенный высокочувствительным полупроводниковым детектором высокого разрешения без жидкого азота Si (Li)
Особенности
JSX-3100RII — это рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF), оснащенный высокочувствительным детектором Si(Li), не содержащим жидкого азота, с высоким разрешением.
JSX-3100RII оснащен уникальной холодильной машиной, которая исключает жидкий азот для измерений.
JSX-3100RII оснащен системой ревакуации для детектора рентгеновского излучения, которая обеспечивает стабильную работу в течение длительного времени.
JSX-3100RII оснащен высокочувствительным Si(Li)детектором, коротковолновой оптической системой и специализированными фильтрами, что позволяет быстро измерять микроэлементы.
JSX-3100RII оснащен детектором SI(Li) высокого разрешения, который позволяет четко разделять пики легких элементов, таких как Mg, Al и Si.
Количественные анализы можно проводить без каких-либо стандартных веществ методом ФП (метод фундаментальных параметров).
JSX-3100RII в стандартной комплектации оснащен коллиматором диаметром 1 мм и ПЗС-камерой, что позволяет пользователям наблюдать и анализировать небольшие образцы, такие как посторонние вещества.
JSX-3100RII в стандартной комплектации оснащен функцией индикации суммы пиков, что упрощает пользователям выполнение качественного анализа.
Кроме того, с помощью дополнительного программного обеспечения Sum-peak Removal Software можно повысить точность количественного анализа.
Метод Thin Film FP может анализировать толщину и состав каждого слоя в многослойных образцах тонкой пленки, таких как композитное покрытие и покрытие из сплава без стандартных образцов.
Метод Thin Film FP входит в стандартную комплектацию.
Характеристики
Диапазон элемента обнаружения | от На до У |
---|---|
Рентгеновский генератор | от 5 до 50 кВ 1 мА 50 Вт |
цель | Rh |
ФИЛЬТР | четырехпозиционный автоматический обмен (включить открытый) |
Коллиматор | 1mm/3mm/7mm |
Детектор | Si(Li) полупроводниковый детектор, не содержащий жидкого азота |
Жидкий азот | не требуется |
Размер камеры образца | Диаметр 300 мм x 150 мм (В) |
Атмосфера в камере для образцов | Воздух (вакуум: опция) |
Персональный компьютер | ОС: Windows®7
Жидкокристаллический дисплей Цветной принтер |
Программное обеспечение для георадаров | Анализ RoHS: 5-элементный анализ пластика, 5-элементный анализ металлических материалов, программное обеспечение для составления отчетов о результатах анализа
Общий анализ: метод объемного ФП, метод тонкопленочного ФП, метод калибровочной кривой |
Программное обеспечение для обслуживания | Программное обеспечение для калибровки приборов, стартер JSX |
Предоставленные образцы | Образец калибровки энергии , Образец проверки прибора , Стандартный образец интенсивности |
Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.