Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

JSX-3100RII Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр

СНЯТО

JSX-3100RII Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр

Рентгенофлуоресцентный спектрометр, оснащенный высокочувствительным полупроводниковым детектором высокого разрешения без жидкого азота Si (Li)

Особенности

JSX-3100RII — это рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF), оснащенный высокочувствительным детектором Si(Li), не содержащим жидкого азота, с высоким разрешением.
JSX-3100RII оснащен уникальной холодильной машиной, которая исключает жидкий азот для измерений.
JSX-3100RII оснащен системой ревакуации для детектора рентгеновского излучения, которая обеспечивает стабильную работу в течение длительного времени.
JSX-3100RII оснащен высокочувствительным Si(Li)детектором, коротковолновой оптической системой и специализированными фильтрами, что позволяет быстро измерять микроэлементы.
JSX-3100RII оснащен детектором SI(Li) высокого разрешения, который позволяет четко разделять пики легких элементов, таких как Mg, Al и Si.
Количественные анализы можно проводить без каких-либо стандартных веществ методом ФП (метод фундаментальных параметров).
JSX-3100RII в стандартной комплектации оснащен коллиматором диаметром 1 мм и ПЗС-камерой, что позволяет пользователям наблюдать и анализировать небольшие образцы, такие как посторонние вещества.
JSX-3100RII в стандартной комплектации оснащен функцией индикации суммы пиков, что упрощает пользователям выполнение качественного анализа.
Кроме того, с помощью дополнительного программного обеспечения Sum-peak Removal Software можно повысить точность количественного анализа.
Метод Thin Film FP может анализировать толщину и состав каждого слоя в многослойных образцах тонкой пленки, таких как композитное покрытие и покрытие из сплава без стандартных образцов.
Метод Thin Film FP входит в стандартную комплектацию.

Характеристики

Диапазон элемента обнаружения от На до У
Рентгеновский генератор от 5 до 50 кВ 1 мА 50 Вт
цель Rh
ФИЛЬТР четырехпозиционный автоматический обмен (включить открытый)
Коллиматор 1mm/3mm/7mm
Детектор Si(Li) полупроводниковый детектор, не содержащий жидкого азота
Жидкий азот не требуется
Размер камеры образца Диаметр 300 мм x 150 мм (В)
Атмосфера в камере для образцов Воздух (вакуум: опция)
Персональный компьютер ОС: Windows®7
Жидкокристаллический дисплей Цветной принтер
Программное обеспечение для георадаров Анализ RoHS: 5-элементный анализ пластика, 5-элементный анализ металлических материалов, программное обеспечение для составления отчетов о результатах анализа
Общий анализ: метод объемного ФП, метод тонкопленочного ФП, метод калибровочной кривой
Программное обеспечение для обслуживания Программное обеспечение для калибровки приборов, стартер JSX
Предоставленные образцы Образец калибровки энергии , Образец проверки прибора , Стандартный образец интенсивности
  • Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!