【СНЯТО С ПРОИЗВОДСТВА】JSX-3100RII Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр
СНЯТО
Этот продукт больше не доступен.
Если вы хотите узнать последнюю информацию о предпочитаемом вами продукте или узнать больше об альтернативах, нажмите на ссылку ниже. Мы надеемся, что вы продолжите использовать наши продукты.
Рентгенофлуоресцентный спектрометр, оснащенный высокочувствительным полупроводниковым детектором высокого разрешения без жидкого азота Si (Li)
Особенности
JSX-3100RII — это рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF), оснащенный высокочувствительным детектором Si(Li), не содержащим жидкого азота, с высоким разрешением.
JSX-3100RII оснащен уникальной холодильной машиной, которая исключает жидкий азот для измерений.
JSX-3100RII оснащен системой ревакуации для детектора рентгеновского излучения, которая обеспечивает стабильную работу в течение длительного времени.
JSX-3100RII оснащен высокочувствительным Si(Li)детектором, коротковолновой оптической системой и специализированными фильтрами, что позволяет быстро измерять микроэлементы.
JSX-3100RII оснащен детектором SI(Li) высокого разрешения, который позволяет четко разделять пики легких элементов, таких как Mg, Al и Si.
Количественные анализы можно проводить без каких-либо стандартных веществ методом ФП (метод фундаментальных параметров).
JSX-3100RII в стандартной комплектации оснащен коллиматором диаметром 1 мм и ПЗС-камерой, что позволяет пользователям наблюдать и анализировать небольшие образцы, такие как посторонние вещества.
JSX-3100RII в стандартной комплектации оснащен функцией индикации суммы пиков, что упрощает пользователям выполнение качественного анализа.
Кроме того, с помощью дополнительного программного обеспечения Sum-peak Removal Software можно повысить точность количественного анализа.
Метод Thin Film FP может анализировать толщину и состав каждого слоя в многослойных образцах тонкой пленки, таких как композитное покрытие и покрытие из сплава без стандартных образцов.
Метод Thin Film FP входит в стандартную комплектацию.
Характеристики
| Диапазон элемента обнаружения | от На до У |
|---|---|
| Рентгеновский генератор | от 5 до 50 кВ 1 мА 50 Вт |
| цель | Rh |
| ФИЛЬТР | четырехпозиционный автоматический обмен (включить открытый) |
| Коллиматор | 1ｍｍ/3ｍｍ/7ｍｍ |
| Детектор | Si(Li) полупроводниковый детектор, не содержащий жидкого азота |
| Жидкий азот | не требуется |
| Размер камеры образца | Диаметр 300 мм x 150 мм (В) |
| Атмосфера в камере для образцов | Воздух (вакуум: опция) |
| Персональный компьютер | ОС: Windows®7
Жидкокристаллический дисплей Цветной принтер |
| Программное обеспечение для георадаров | Анализ RoHS: 5-элементный анализ пластика, 5-элементный анализ металлических материалов, программное обеспечение для составления отчетов о результатах анализа
Общий анализ: метод объемного ФП, метод тонкопленочного ФП, метод калибровочной кривой |
| Программное обеспечение для обслуживания | Программное обеспечение для калибровки приборов, стартер JSX |
| Предоставленные образцы | Образец калибровки энергии , Образец проверки прибора , Стандартный образец интенсивности |
Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.