Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) — это универсальный микроскоп, который сканирует поверхность образца с помощью очень тонкого зонда и отображает топографическую форму и физические свойства поверхности. С последними достижениями в области нанотехнологий СЗМ стал широко использоваться в различных областях.
Особенности
Функция мгновенного поиска
Surface Topographic Observer (STO)※, метод, основанный на современной теории управления, обеспечивает получение изображений с высокой скоростью сканирования с минимальным искажением топографического изображения по сравнению с обычными методами.
Можно использовать имеющийся в продаже кантилевер (нет необходимости в специальном кантилевере)
Пример наблюдения за решеткой
Сканирование с помощью обычного ПИД-регулятора
Топографическое изображение 50 Гц сканирования
Точная форма не получается.
Сканирование методом управления STO
Топографическое изображение, сканирование 50 Гц
(STO — это метод, разработанный в Йокогамском национальном университете)
Революционный контроллер и программное обеспечение
Высоковольтный усилитель, разработанный JEOL, позволяет получать изображения с высоким отношением сигнал/шум. Кроме того, программное обеспечение проще в использовании благодаря оптимально помеченным кнопкам со значками.
Экологический SPM
Этот СЗМ поддерживает визуализацию в различных средах, таких как воздух, жидкость, вакуум, контролируемая атмосфера (с введением газа) и нагревание/охлаждение образца.
Даже если установлены дополнительные аксессуары, работа в воздухе проста, что подходит как для новичков, так и для профессионалов.
Бесконтактный режим с цифровым управлением подходит для визуализации мягких образцов
JSPM-5410 включает усовершенствованный бесконтактный режим для цифрового управления, в котором используется метод обнаружения ЧМ с постоянной амплитудой возбуждения. Встроена новая автоматическая регулировка усиления (АРУ), которая расширяет возможности бесконтактного режима для визуализации рассеяния.
JSPM-5410 — единственный SPM, который стандартно поставляется с бесконтактным режимом.
Характеристики
| Постановления | Внутри поверхности: 0.1 нм, вертикальное направление: 0.02 нм АСМ: атомное разрешение (слюда с контактным режимом) STM: атомное разрешение (атомное изображение HOPG) |
|---|---|
| Режим измерения | АСМ: Режим NC (обнаружение частоты) Топографическое изображение, изображение с частотным сдвигом, изображение диссипации (Вариант: СКПМ, МФМ, ЭФМ) Режим переменного тока (определение амплитуды) Топографическое изображение, фазовое изображение, амплитудное изображение (Опция: VE-AFM, SKPM, MFM, EFM) Контактный режим Топографическое изображение, Принудительное изображение, Контактное текущее изображение, FFM (Опция: VE-AFM, LM-FFM, PFM, SCFM, UAFM) STM: топографическое изображение, текущее изображение Спектроскопия: кривая силы, кривая силы трения, IV, SV, IS, SI, картирование SPS |
| Диапазон сканирования стандартным сканером | XY: от 0 до 20 мкм (разрешение: 16 бит 3DAC, что эквивалентно 21 биту) Z: от 0 до 3 мкм (разрешение: 22 бита) При использовании тубусного сканера (сменный) Количество пикселей: до 2048 × 2048 Прямоугольное сканирование, сканирование с пропуском, автоматическое отслеживание датчика, Управление сканированием без повреждений, безопасный высокоскоростной подход |
| Размер образца | До 50 мм × 50 мм × 5 мм (T) Стандарт: 10 мм × 10 мм × 3 мм (Т) |
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.