Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5200

СНЯТО

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5200

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) — это универсальный микроскоп, который сканирует поверхность образца с помощью очень тонкого зонда и отображает топографическую форму и физические свойства поверхности.
С последними достижениями в области нанотехнологий СЗМ стал широко использоваться в различных областях.

Особенности

Высокое разрешение, позволяющее наблюдать атомные и молекулярные изображения

Разрешение СЗМ является высоким среди различных видов микроскопов. СЗМ имеет разрешение по горизонтали, сравнимое с ПЭМ высокого разрешения, а также обеспечивает разрешение по вертикали, превосходящее другие микроскопы.
СЗМ позволяет легко наблюдать очень тонкие структуры, которые не наблюдаются с помощью СЭМ, без обработки образца.

Двойная виброизоляция с помощью стола на пневматической подвеске и гелевого демпфера
JSPM-5200 предлагает изображения с атомарным/молекулярным разрешением с помощью этого механизма изоляции.
Возможность выбора трех режимов АСМ
JSPM-5200 поддерживает три режима АСМ: контактный режим, режим переменного тока и бесконтактный режим, что позволяет выбрать подходящий режим в зависимости от образца или цели измерения.
Бесконтактный режим включен в стандартную конфигурацию.
JSPM-5200 позволяет получать изображения с высоким разрешением без контакта вершины зонда с поверхностью образца.

Визуализация и измерение физических величин поверхностей образцов

СЗМ используется не только для визуализации топографических форм образцов, но также для наблюдения и измерения различных физических величин.

Различные режимы измерения
В дополнение к стандартным режимам измерения, включая режим FFM и фазовый режим, JSPM-5200 имеет дополнительные режимы, охватывающие многочисленные измерения, такие как изображение поверхностного потенциала, изображение магнитной силы и изображение вязкоупругости.

Гибкость в демонстрационных средах

SPM может управлять тестовой средой. Вы можете использовать JSPM-5200 в различных средах, таких как воздух, вакуум, регулируемая атмосфера и жидкость.

Экологический SPM
Компания JEOL расширила СЗМ атмосферного давления до СЗМ окружающей среды JSPM-5200. Этот SPM гибко контролирует среду образца, позволяя вам наблюдать за образцами не только в вакууме, контролируемой атмосфере и жидкости, но также при их нагревании или охлаждении.
Простая, последовательная работа
Простота работы с JSPM-5200 не меняется даже при установке дополнительных принадлежностей для нагрева или охлаждения проб в вакууме или на воздухе. JSPM-5200 прост в эксплуатации во всех типовых средах.

Простое измерение

Вы можете увидеть образец изображения вскоре после того, как вставите образец в JSPM-5200.

Простое управление нажатием кнопок со значками
Когда вы вставляете образец в JSPM-5200, вы можете легко наблюдать за изображением образца, просто нажимая четко обозначенные кнопки со значками в измерительном программном обеспечении. Это измерительное программное обеспечение автоматически выполняет всю необходимую настройку компонентов (консоль и т. д.) для измерения.
Обработка изображений→ анализ→ создание отчетов – интегрировано в одну функцию
Процедуры, необходимые для измерения СЗМ, от обработки и анализа изображений до создания отчета, были интегрированы в одну функцию измерительного программного обеспечения. Таким образом, вы можете быстро выполнять эти задачи.

Характеристики

Постановления АСМ: Атомное разрешение (слюда с контактным режимом)
СТМ: атомное разрешение (атомное изображение ВОПГ)
Дрейф системы 0.05 нм/с или менее, доступен столик без дрейфа
Режим измерения (АСМ) Контактный режим АСМ
 Изображение топографии, изображение Силы
 Кривая фокусировки, кривая силы трения, IV, CITS,
 Контактное текущее изображение, отображение SPS
Режим переменного тока
 Топографическое изображение, фазовое изображение, амплитудное изображение
 По пунктам МФМ
Бесконтактный режим (режим FM)
 Изображение топографии, изображение частоты
Режим измерения (СТМ) режим СТМ
 Изображение топографии, Текущее изображение, CITS
 IV, СВ, ИС
Диапазон сканирования XY: от 0 до 20 мкм (стандартный сканер)
  Разрешение: 25 бит (включая смещение)
Z : от 0 до 3 мкм (стандартный сканер)
  Разрешение: 21 бит (при усилении ×32)
Размер образца До 50 мм×50 мм×5 мм (Т)
Стандарт: 10 мм×10 мм×3 мм (Т)
  • Примечание. Поскольку консоль не входит в комплект, свяжитесь с нами при заказе JSPM-5200.

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!