ДЖСМ-ИТ210
Растровый электронный микроскоп

Простота получения данных для всех типов образцов

JSM-210 — самый компактный стационарный сканирующий электронный микроскоп JEOL.
Недавно разработанный предметный столик приводится в действие двигателем по всем пяти осям движения, что делает его более безопасным и быстрым в использовании.
Кроме того, недавно оборудованный «Simple SEM» автоматически получает наблюдение и анализ, просто выбирая поле зрения. JSM-IT210 — это СЭМ нового поколения, который компактен и может работать без присмотра.

Особенности

Руководство от обмена образцами до автоматического наблюдения "Specimen Exchange Navi"

1. Следуйте Navi, чтобы установить образец

2. Подготовьтесь к наблюдению во время эвакуации

3. Начать наблюдение автоматически

*1 Система навигации по сцене (SNS) не является обязательной.
*2 SNSLS не является обязательным. Его можно использовать одновременно с SNS.
*3 Прицел камеры (CS) не является обязательным.

Увеличение оптического изображения, переход к СЭМ-изображению «Зеромаг»

Функция Zeromag упрощает навигацию, обеспечивая плавный переход от оптического* изображения к РЭМ.
СЭМ, оптическое изображение и графическое изображение держателя связаны между собой для получения общего представления о местах проведения анализа.

* Для захвата оптического изображения требуется система навигации сцены (SNS, опционально).

Встроенная ЭДС для определения элементного состава в режиме реального времени во время наблюдения* «Анализ в реальном времени»

Live Analysis — это функция, которая отображает спектр EDS или карты элементов в режиме реального времени во время наблюдения за изображением. Эта функция может поддерживать поиск и выдавать предупреждения о целевых элементах.

*Требуются модели A (анализ) или LA (низкий вакуум и анализ).

Автоматизация для повышения производительности «Простой РЭМ»

Simple SEM автоматизирует сбор изображений в различных местах, условиях и увеличениях.

Инструменты для скорости

Сцена с высокой точностью позиционирования. Точно перемещайте точки анализа.

Стандарт 60 мм² ЭДС большого диаметра*
Для быстрого анализа*

Быстрый анализ

60 мм²  Размер сенсора EDS, стандартно оснащенный JSM-IT210, может обеспечить такое же качество за гораздо меньшее время, чем с детекторами меньшей площади. Многоточечный анализ также может выполняться более эффективно.

Применение к термочувствительным образцам

Детектор ЭДС небольшой площади требует для анализа большой силы тока. Термочувствительные образцы повреждаются из-за лучевого облучения, что негативно влияет на карту элементов.

60 мм² EDS собирает карту элементов с более низким током зонда.
 Это позволяет проводить быстрый анализ при минимальных повреждениях, вызванных нагреванием.

Быстрые и четкие карты элементов

60 мм² EDS собирает четкую карту элементов даже по минутному измерению.

Образец: паллазитовый метеорит
Ускоряющее напряжение: 15 кВ
Время измерения: 1 минута

* Этот EDS совместим с моделями LV (низкий вакуум) и LA (низкий вакуум и анализ).

Характеристики

Пожалуйста, обратитесь к нашему каталогу продукции. 

Скачать буклет

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Связанные товары

Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Приборы для пробоподготовки (CP)

Подробнее