ДЖСМ-ИТ210
Растровый электронный микроскоп

Простота получения данных для всех типов образцов
JSM-210 — самый компактный стационарный сканирующий электронный микроскоп JEOL.
Недавно разработанный предметный столик приводится в действие двигателем по всем пяти осям движения, что делает его более безопасным и быстрым в использовании.
Кроме того, недавно оборудованный «Simple SEM» автоматически получает наблюдение и анализ, просто выбирая поле зрения. JSM-IT210 — это СЭМ нового поколения, который компактен и может работать без присмотра.
Особенности
Руководство от обмена образцами до автоматического наблюдения "Specimen Exchange Navi"
1. Следуйте Navi, чтобы установить образец

2. Подготовьтесь к наблюдению во время эвакуации
3. Начать наблюдение автоматически
*1 Система навигации по сцене (SNS) не является обязательной.
*2 SNSLS не является обязательным. Его можно использовать одновременно с SNS.
*3 Прицел камеры (CS) не является обязательным.
Увеличение оптического изображения, переход к СЭМ-изображению «Зеромаг»
Функция Zeromag упрощает навигацию, обеспечивая плавный переход от оптического* изображения к РЭМ.
СЭМ, оптическое изображение и графическое изображение держателя связаны между собой для получения общего представления о местах проведения анализа.
* Для захвата оптического изображения требуется система навигации сцены (SNS, опционально).
Встроенная ЭДС для определения элементного состава в режиме реального времени во время наблюдения* «Анализ в реальном времени»
Live Analysis — это функция, которая отображает спектр EDS или карты элементов в режиме реального времени во время наблюдения за изображением. Эта функция может поддерживать поиск и выдавать предупреждения о целевых элементах.
*Требуются модели A (анализ) или LA (низкий вакуум и анализ).
Автоматизация для повышения производительности «Простой РЭМ»
Simple SEM автоматизирует сбор изображений в различных местах, условиях и увеличениях.
Инструменты для скорости
Сцена с высокой точностью позиционирования. Точно перемещайте точки анализа.
Стандарт 60 мм2 ЭДС большого диаметра*
Для быстрого анализа*
Быстрый анализ
60 мм2 Размер сенсора EDS, стандартно оснащенный JSM-IT210, может обеспечить такое же качество за гораздо меньшее время, чем с детекторами меньшей площади. Многоточечный анализ также может выполняться более эффективно.


Применение к термочувствительным образцам
Детектор ЭДС небольшой площади требует для анализа большой силы тока. Термочувствительные образцы повреждаются из-за лучевого облучения, что негативно влияет на карту элементов.
60 мм2 EDS собирает карту элементов с более низким током зонда.
Это позволяет проводить быстрый анализ при минимальных повреждениях, вызванных нагреванием.
Быстрые и четкие карты элементов
60 мм2 EDS собирает четкую карту элементов даже по минутному измерению.







Образец: паллазитовый метеорит
Ускоряющее напряжение: 15 кВ
Время измерения: 1 минута
* Этот EDS совместим с моделями LV (низкий вакуум) и LA (низкий вакуум и анализ).
Характеристики
Пожалуйста, обратитесь к нашему каталогу продукции.
Скачать буклет
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210
Связанные товары
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
Приборы для пробоподготовки (CP)
Подробнее


Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.