【СНЯТО С ПРОИЗВОДСТВА】Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT100 InTouchScope™
СНЯТО
Особенности
JSM-IT100, оснащенный 50-летними технологиями JEOL SEM, представляет собой компактный универсальный сканирующий электронный микроскоп.
Простота использования является ключевой особенностью нашей успешной серии InTouchScope™, сохраняя при этом универсальность и расширяемость, ожидаемые от СЭМ исследовательского уровня. Этот многофункциональный СЭМ используется в самых разных областях, таких как биотехнология и нанотехнология, охватывающих различные приложения, от разработки материалов, испытаний, оценки и анализа дефектов до контроля качества и т. д.
С моделью, встроенной в EDS, простая в использовании программная система обеспечивает плавную интеграцию наблюдений, элементного анализа и создания отчетов.
Серия InTouchScope™ была выбором клиентов по всему миру с момента ее выпуска в 2010 году, при этом общее количество отгруженных устройств ранее превышало 1,000 единиц.
Превосходная работоспособность
Сенсорная панель обеспечивает удобное и интуитивно понятное управление.
Также разрешены операции с панелью управления* и мышью, что расширяет выбор операций в соответствии с целями пользователей.
Простой в использовании программный интерфейс позволяет даже неопытным пользователям выполнять любые задачи с высокой эффективностью.
JSM-IT100 включает в себя графический интерфейс, который полностью интегрирует наблюдение и анализ элементов в одном окне, а переключение SEM/EDS можно выполнить с помощью настройки одним щелчком мыши. Этот простой в использовании программный интерфейс позволяет даже неопытным пользователям выполнять любые задачи с высокой эффективностью.
Плавно выполняйте замену образцов, нажимая кнопки, как указано в навигации по обмену образцами.
При установке столика с моторным приводом* и системы навигации столика* можно локализовать интересующую область так же, как при работе с оптическим микроскопом.
Установка направляющей EDS гарантирует, что анализ может быть выполнен без какой-либо нерешительности.
Новый РЭМ «все в одном» может быть оснащен теми же опциями, что и инструменты высокого класса.
Помимо низковакуумного режима, визуализировать и анализировать можно даже непроводящие материалы без какой-либо предварительной обработки.
В дополнение к низковакуумному наблюдению и элементному анализу, JSM-IT100 поддерживает 5-осевой моторный привод.* Также доступна опция увеличения ускоряющего напряжения до 30 кВ*
Теперь включены расширенные функции EDS, такие как: анализ области и линейное сканирование.
JSM-IT100 оснащен EDS производства JEOL и имеет полностью интегрированный графический интерфейс, который позволяет переключать SEM/EDS в одном окне.
Функции EDS в отмеченной наградами серии InTouchScope™ дополнительно усилены за счет добавления функций частичного анализа площади, анализа линейного сканирования и картографического фильтра.
Экономия места и простота установки
JSM-IT100 занимает на 30 % меньше места, чем наши предшественники, и занимает примерно столько же места, сколько настольный сканирующий электронный микроскоп.
Для установки достаточно розетки на 100 В и не требуется охлаждающая вода, что значительно увеличивает гибкость на месте установки.
Опция
Характеристики
| Разрешение | Режим высокого напряжения: 3 нм (30 кВ *1) 4 нм (20 кВ), 8 нм (3 кВ) 15 нм (1 кВ)
режим LV*2: 4 нм (30 кВ *1) 5 нм (20 кВ) |
|---|---|
| Увеличение | от x5 до x300,000 128 (для размера изображения от 96 мм до XNUMX мм) |
| Диапазон настройки низкого давления вакуума *2 | от 10 до 100 Па |
| Ускоряющее напряжение | 0.5 кВ до 30 кВ *1 (53 ступени)
от 0.5 кВ до 20 кВ (43 ступени) |
| Филамент | Вольфрамовая шпилька с предварительной центровкой на заводе |
| Электронная пушка | Доступна полностью автоматическая/ручная регулировка |
| Конденсорная линза | Высокоточный зум-конденсорный объектив |
| Объектив | Коническая линза |
| Диафрагма объектива | 1 шаг, точная регулировка по X и Y |
| Астигматизм памяти | Доступен |
| Стадия образца | Эуцентрическая стадия
Х : 80 мм Y : 40 мм Z : от 5 мм до 48 мм Наклон: от -10° до + 90°, вращение: 360° |
| Максимальный размер образца | 150 мм диам. |
| Файл изображения | BMP, TIFF, JPEG |
| Функции ЭЦП*3 | Спектральный анализ, качественный/количественный анализ, анализ горизонтальных линий, многоточечный анализ, анализ карты элементов, отслеживание датчика |
| Стандартный рецепт | Доступен |
| Пользовательский рецепт | Система EOS, координаты сцены, вакуумный режим и т. д. |
| Автоматические функции | Автофиламент и выравнивание, ACB, AF, AS, активный тон |
| Система эвакуации | Полностью автоматический, TMP : 1 RP : 1 |
Основные варианты
Комплект расширения ускоряющего напряжения (AEK)
Низковакуумный детектор вторичных электронов
Система навигации по сцене*4
Объем камеры
Панель управления
Подвижная диафрагма (3 шага)
Моторный привод (XY, XYZ, XYR, 5 осей)
Кремниевый дрейфовый детектор (10 мм, 30 мм, 60 мм, 100 мм)
Программное обеспечение для трехмерного изображения (3D Sight)
Стол (Ш: 800 мм Г: 800 мм)
Требуется комплект расширения ускоряющего напряжения
Требуется комплект низкого вакуума
Стабдард для JSM-IT100 (A)/(LA)
Требуется ступень моторного привода
Галерея
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.