【СНЯТО С ПРОИЗВОДСТВА】JSM-7700F Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией
СНЯТО
Этот продукт больше не доступен.
Если вы хотите узнать последнюю информацию о предпочитаемом вами продукте или узнать больше об альтернативах, нажмите на ссылку ниже. Мы надеемся, что вы продолжите использовать наши продукты.
Особенности
JSM-7700F является единственным SEM с коррекцией аберраций (Cs и Cc) на рынке. JSM-7700F также предлагает беспрецедентное разрешение 0.6 нм при 5 кВ и значительно расширяет полезное разрешение технологии SEM для разработки устройств в нанометровом масштабе. Он оптимизирован для работы при низком напряжении, что имеет решающее значение при анализе поперечного сечения полупроводниковых устройств. Используя JSM-7700F, оператор СЭМ может четко отображать отложения оксидов и нитридов и исследовать сложные характеристики устройства с помощью метрологии. СЭМ использует запатентованную JEOL технологию детектора обратно рассеянных электронов «в линзе» и пьезоуправляемый гониометрический столик с несколькими образцами для точных и стабильных движений предметного столика на нанометровом уровне».
Приложения
Приложение JSM-7700F
Электроны, рассеянные назад под большим углом, и электроны, рассеянные назад под малым углом
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.