JSM-6010LA InTouchScope™ сканирующий электронный микроскоп с несколькими сенсорными панелями

Многофункциональный РЭМ общего назначения с новым интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, использующим рабочий экран и сенсорную панель. Элементный анализ EDS был полностью интегрирован. Режим низкого вакуума включен в стандартную конфигурацию, что позволяет легко наблюдать за непроводящими материалами без предварительной обработки.

Особенности

Узнайте о возможностях и характеристиках сканирующего электронного микроскопа JSM-6010 компании JEOL.

Превосходная работоспособность

Сенсорные панели обеспечивают интуитивно понятное управление

Помощь в навигации

Плавно выполняйте замену образцов, нажимая кнопки, как указано в навигации по обмену образцами.
При установке столика с моторным приводом (опция) и системы навигации столика (опция) можно локализовать интересующую область так же, как при работе с оптическим микроскопом.
Установка направляющей EDS гарантирует, что анализ может быть выполнен без какой-либо неопределенности (только LA).

LV входит в стандартную комплектацию

Визуализация и анализ непроводящих материалов без какой-либо предварительной обработки

Полностью интегрированная ЭЦП

Переключение между SEM/EDS с помощью одной кнопки
Операции ЭЦП можно выполнять из того же окна, что и РЭМ

Приложения

Приложение JSM-6010LA

Электроны, рассеянные назад под большим углом, и электроны, рассеянные назад под малым углом

Обратнорассеянные электроны

Подробнее