Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Многолучевая система JIB-4601F

СНЯТО

Многолучевая система JIB-4601F

JIB-4601F представляет собой многолучевую систему обработки и наблюдения, включающую SEM типа Шоттки и колонку FIB высокой мощности. После фрезерования области поперечного сечения с помощью FIB можно наблюдать и анализировать внутренние части с помощью SEM. FIB можно использовать для тонкого измельчения и подготовки образцов для ПЭМ, а также для выполнения трехмерного структурного анализа с автоматическим фрезерованием поперечного сечения/наблюдением и анализом через фиксированные интервалы времени. РЭМ типа Шоттки позволяет легко позиционировать целевой участок, а также наблюдать и анализировать мельчайшие структуры. Это система, которую можно использовать для широкого спектра применений, включая исследования и разработки, а также контроль качества продукции.

Особенности

Инструмент «все в одном» — различные приложения, предлагаемые одним прибором

Многофункциональный анализ благодаря сочетанию колонки High-Power FIB и High-Power Optics SEM.

Колонка High-Power FIB с максимальным током зонда 60 нА обеспечивает быстрое фрезерование поперечного сечения, а СЭМ Шоттки обеспечивает наблюдение поперечного сечения с высоким разрешением. Высокомощная оптика (максимальный ток 200 нА при 15 кВ), встроенная в СЭМ, позволяет выполнять высокоскоростной анализ с высоким разрешением, например анализ элементов с использованием EDS или WDS, а также анализ ориентации кристаллов EBSD. Кроме того, доступен полный набор дополнительных приспособлений, включая детекторы просвечивающих электронов, механизмы охлаждения образцов, такие как криоблок и охлаждающий столик, а также детекторы катодолюминесценции.

Функция трехмерного анализа структуры

Благодаря автоматическому чередованию фрезерования секции FIB с использованием функции серийного среза и отбора проб, а также наблюдения и анализа с помощью SEM (картирование EDS или анализ кристаллической структуры EBSD) можно анализировать трехмерную структуру образца. Измерения могут быть выполнены быстро, поскольку нет необходимости перемещать предметный столик.

Совместим с другими продуктами JEOL.

Держатели образцов, используемые с JIB-4601F, такие же, как и в системах JEOL FE-SEM. Кроме того, если между наконечником держателя ТЭМ и столиком серии JIB используется челночный фиксатор, нет необходимости в сложной обработке образца ТЭМ, прикрепленного к сетке, что обеспечивает улучшенную пропускную способность.

Характеристики

Электронная пушка Тип полевой эмиссии Шоттки △TFE (ZrO/W)
Объектив Объектив внелинзового типа
Постановления 1.2 нм при 30 кВ WD4мм
3.0 нм при 1 кВ WD2мм
Ускоряющее напряжение от 0.2 до 30 кВ
Ток зонда От нескольких пА до 200 нА при 15 кВ
Объектив с оптимизацией угла диафрагмы Встроенный
Увеличение от x20 до x1,000,000
Детекторы Нижний детектор электронов (светодиод)
Вариант(*)
Р-КРОВАТЬ*
КОРЕНЬ*
Нежный луч Встроенный (напряжение, подаваемое на образец, от 0 до 300 В)
Камера обмена образцами Встроенный
(с функцией введения сухого азота)
Стадия образца 6-осевой моторный столик
Диапазон перемещения образца X: 50 мм, Y: 50 мм,
Z: от 1.5 до 41 мм
Наклон: от -5 до 70°, Вращение: 360°,
Fz: от -3 до +3 мм
Метод обмена образцами Тип зажима в одно касание
Держатель образца Стандартный держатель:
держатель φ12.5
держатель φ32 мм
Опциональный держатель:
Держатель пластин 76.2 мм
 Держатель пластин 100 мм
 Держатель пластин 125 мм
 Держатель пластин 150 мм
2, 4, 6 тип объемного держателя
Поверхностный держатель для нескольких образцов
Держатель STEM
Держатель фиксатора челнока
Держатель в одно касание
Объем камеры Камера камеры для образцов (опция)
Автоматические функции Автофокус
Автоматическая регулировка яркости
Контроль системы Система управления СЭМ
   ПК Совместимость с IBM PC/AT〔SM-77360PC〕
Оперативная память 2 ГБ или более
 ОС Windows 7® Профессиональная*
монитор 23 дюйма
Отображение изображения Область отображения изображения 1280×960 пикселей, 800×600 пикселей
Режимы отображения Стандарт: SEM_SEI, FIB_SEI
Опция: SEM_COMPO, SEM_TOPO, AUX, CCD
Режимы сканирования/отображения Сканирование ограниченной области, добавление изображений, масштабирование
Отображение экрана: 1 экран, 2 экрана (стандарт), 4 экрана
вакуум ХВ ; < 2.0 x 10E-4 Па
(при использовании ГИС; <3.0E-3Pa) 
Система эвакуации SIP x 2 (СЭМ), 
SIP x 1 (ФИБ),
ТМП х 1, в РП х 1
Режим экономии потребления электроэнергии В обычном режиме ок. 2.0kВА
Co2эквивалент выбросов         Co2 эмиссия в год
Нормальная работа 4967 кг
Устройство безопасности Защита от вакуумного падения, пропадания воды, Н2 падение давления газа, ток утечки
Однако механизм поддержания сверхвысокого вакуума при сбое питания не предусмотрен.
след 3200мм или более ×3000mm или более
Требование к установке Источник питания Однофазный 100 В, 50/60 Гц, макс. 4кВА,
Обычное использование ок. 2.0 кВА
Допустимое колебание входного питания в пределах ±10%
Клемма заземления 100 Ом или менее x 1
Охлаждающая вода
Выпустите кран. диам. 14 мм x 1 или JIS B 0203 Rc 1/4 x 1
Скорость потока 0.5 л/мин
Давление воды от 0.1 до 0.25 МПа (манометрическое давление) Температура воды 20°± 5℃
Сливная гостиница. диам. 25 мм или более x1 или JIS B 0203 Rc 1/4 x 1
Сухой газообразный азот JIS B 0203 Rc 1/4 (предоставляется пользователем)
 Давление от 0.45 до 0.55 МПа (избыточное давление) 
Комната установки 
 Комнатная температура 20 ℃ ± 5 ℃
 Влажность 60% или ниже
 Магнитное поле рассеяния 0.3 мкТл (PP) или меньше (синусоидальная волна 50/60 Гц, диаметр 10 мм, 15 кВ)*1
 Вибрация пола 3 мкм (ПП) или ниже*1 при частоте синусоидальной волны более 5 Гц.
 Шум 70 дБ или ниже *1 как ПЛОСКАЯ характеристика
 Размер помещения для установки 3,000 мм x 3,000 мм или более
Высота 2,300 мм или выше
 Размер двери 1,000*2 мм (Ш) x 2,000 мм (В) или более
  • Это не применимо для условий, отличных от этих. Перед доставкой мы проведем обследование помещения для установки и проконсультируемся с вами о максимальном увеличении наблюдения. 

  • Пожалуйста, проконсультируйтесь, если ширина двери 900 мм.

Основные дополнительные вложения EDS, WDS, EBSD, CL, SNS и т. д.
  • Windows является зарегистрированным товарным знаком Microsoft Corporation в США и других странах.

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!