Выпуск нового сканирующего электронного микроскопа JSM-IT510 серии InTouchScope™ - Простота сбора данных для всех типов образцов -

Фон разработки продукта

Сканирующие электронные микроскопы используются в самых разных областях, таких как нанотехнологии, металлы, полупроводники, керамика, медицина и биология. Кроме того, приложения СЭМ распространяются не только на фундаментальные исследования, но и на контроль качества на производственных площадках. В связи с этим возрастают требования к более быстрому и простому сбору данных как изображений СЭМ, так и результатов анализа, таких как спектры энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС).
Чтобы удовлетворить эти потребности и увеличить пропускную способность, мы разработали серию JSM-IT510, которая расширяет возможности нашего популярного InTouchScope™. С новой функцией Simple SEM теперь вы можете «оставить» прибору свою повседневную рутину (повторяющиеся операции).

Основные особенности

• Новая функция «Простой SEM»
  Функция Simple SEM позволяет пользователю просто выбрать условия получения и поле зрения для изображения SEM, после чего изображение SEM будет получено автоматически. Рутинную работу можно сделать более эффективной.
• Новый "Низковакуумный гибридный детектор вторичных электронов (LHSED)"
  Этот новый детектор улавливает как электронные, так и фотонные сигналы, обеспечивая изображение с высоким отношением сигнал-шум и улучшенную топографическую информацию даже в условиях низкого вакуума.
• Интеграция системы сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) и энергодисперсионного рентгеновского спектрометра (ЭДС)
  Интеграция SEM и EDS получила дальнейшее развитие, а функция Live Map позволяет отображать в реальном времени элементную карту поля зрения.
• Новая функция «Живое 3D»
  3D-изображения могут быть построены на месте, пока выполняется наблюдение с помощью СЭМ, для получения информации о неровностях и глубине.
• Функция живого анализа
  Встроенная система EDS показывает спектр EDS в реальном времени во время наблюдения за изображением для эффективного элементного анализа.
• Новая функция Stage Navigation System LS
  Новая система Stage Navigation System LS может получать оптическое изображение на площади, в четыре раза большей, чем у обычных моделей (200 мм x 200 мм). Эта функция позволяет пользователю получить оптическое изображение исследуемого образца и перейти к нужному полю наблюдения, просто щелкнув оптическое изображение.
• Zeromag
  Благодаря нашей функции Zeromag навигация по образцам стала еще проще, чем когда-либо. Вы можете найти области для визуализации или указать позиции анализа в нескольких полях, используя оптическое изображение или графику держателя.
• Отображение характерной глубины генерации рентгеновского излучения
  Это способствует быстрому пониманию глубины анализа (эталонной) образца.
• Лаборатория SMILE VIEW™, обеспечивающая интегрированное управление изображениями и данными анализа
  Упрощает создание отчетов для всех данных от собранных изображений СЭМ до результатов элементного анализа за короткое время.

Основные технические характеристики

Примечание. Спецификация и фотография прибора соответствуют модели JSM-IT510 (LA).

Объем продаж

200 единиц / год

Ссылка

• Каталог
  Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™