Выпуск нового автоэмиссионного сканирующего электронного микроскопа Шоттки JSM-F100 — Следующий уровень аналитического интеллекта в FE-SEM для сочетания высокого разрешения и удобства —

Фон разработки продукта

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) используются в самых разных областях, таких как нанотехнологии, металлы, полупроводники, керамика, медицина и биология. Поскольку приложения SEM расширяются, чтобы охватывать не только исследования и разработки, но и контроль качества и проверку продукции на производственных площадках, пользователи SEM нуждаются в быстром сборе высококачественных данных, а также в простом подтверждении информации о составе с бесперебойной аналитической операцией.

Чтобы удовлетворить эти требования, JSM-F100 включает в себя не только нашу зарекомендовавшую себя электронную пушку Schottky Plus с полевой эмиссией в объективе и «Neo Engine» (электронно-оптическую систему управления), но также новый графический интерфейс «SEM Center» и инновационный «LIVE». -AI (Live Image Visual Enhancer-Искусственный интеллект) фильтр". Это обеспечивает оптимальное сочетание визуализации с высоким пространственным разрешением и высокой функциональностью. Кроме того, JSM-F100 поставляется с энергодисперсионным рентгеновским спектрометром (EDS) JEOL, который полностью интегрирован в «SEM Center» для беспрепятственного получения изображений от результатов элементного анализа. Вдохновленный пользователями в стремлении к развитию и интеграции высокой производительности и удобства, JSM-F100 достигает превосходной эффективности работы, 50% или выше, чем у нашей предыдущей серии JSM-7000, что приводит к значительному увеличению пропускной способности.

Основные особенности

• Электронная пушка Schottky Plus с полевой эмиссией в объективе
  Усовершенствованная интеграция электронной пушки и конденсаторной линзы с низкой аберрацией обеспечивает более высокую яркость. Достаточный ток зонда доступен при низком ускоряющем напряжении, поддерживая различные возможности от визуализации с высоким разрешением до высокоскоростного картирования элементов.
• Гибридный объектив (HL)
  Гибридная линза (HL), сочетающая в себе электростатическую и магнитную линзы, поддерживает визуализацию с высоким пространственным разрешением и анализ различных образцов, от магнитных материалов до изоляторов.
• Neo Engine (новый электронно-оптический движок)
  Neo Engine, передовая электронно-оптическая система управления, обеспечивает значительно улучшенную точность автоматических функций, а также значительно более высокую работоспособность.
• Новая функция «SEM Center» для интеграции ЭЦП
  Недавно разработанный графический интерфейс пользователя «SEM Center» полностью интегрирует визуализацию SEM и анализ EDS. Эта мощная функция обеспечивает удобство работы нового поколения и изображения с высоким разрешением, полученные с помощью FE-SEM.
• Новая функция «Зеромаг»
  «Zeromag», встроенный для плавного перехода от оптического изображения к SEM, позволяет легко определить местонахождение целевой области образца.
• Новый фильтр LIVE-AI^*
  Используя возможности ИИ (искусственного интеллекта), встроен фильтр LIVE-AI для более высокого качества живых изображений. В отличие от обработки интеграции изображений, этот новый фильтр может отображать бесшовное движущееся живое изображение без остаточного изображения. Эта уникальная функция очень эффективна для быстрого поиска областей наблюдения, фокусировки и настройки стигматора.
  
  *по желанию

Основные технические характеристики

Целевой годовой объем продаж

60 единиц / год

Ссылка

• Каталог
  JSM-F100 Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-FXNUMX