Семинары/вебинары 2022
Января
-
Вт, 25 янв.
Вебинар
Определение сложных смесей с помощью ЯМР
-
Ср, 26 янв.
Вебинар
Сокращение времени анализа пестицидов с помощью газовой хроматографии низкого давления на ГХ-МС/МС с короткой ячейкой столкновений
фев
-
Чт, 17 фев.
Вебинар
Серия вебинаров: Аналитический ландшафт тестирования каннабиса. Сессия 2: Пестициды с помощью ГХ-МС/МС
-
Вт, 22 фев.
Вебинар
Внедрение высокочувствительного анализа остатков пестицидов в пищевых продуктах с использованием системы ГХ-МС/МС и недавно разработанного источника ионов повышенной производительности (EPIS)
Вт
-
Ср, 2 марта
Вебинар
Усовершенствованный анализ нефти с использованием времяпролетного масс-спектрометра высокого разрешения, оснащенного методами мягкой ионизации.
апрель
-
Ср, 20 апр
Вебинар
Серия вебинаров: Аналитический ландшафт тестирования каннабиса Сессия 4: Остаточные растворители и терпены с помощью ГХ-МС
май
июнь
-
Чт, 23 июня
Вебинар
Златовласка и три системы ГХ-МС: какая из них «в самый раз» для данного приложения?
июль
-
Вт, 26 июля
Вебинар
Плагин SMILEQ в программном обеспечении JASON для автоматизированной системы количественного ЯМР
сен
окт
-
Вт, 4 окт.
Вебинар
Автоматизированный структурный анализ реальных неизвестных соединений путем сочетания технологии искусственного интеллекта (ИИ) и системы GC-TOFMS. Внедрение msFineAnalysis AI, интегрированного программного обеспечения для качественного анализа.
-
Вт, 18 окт.
Вебинар
Автоматизированный структурный анализ реальных неизвестных соединений путем сочетания технологии искусственного интеллекта (ИИ) и системы GC-TOFMS. Внедрение msFineAnalysis AI, интегрированного программного обеспечения для качественного анализа.
-
Чт, 27 окт.
Вебинар
Передовые методы в литий-ионных батареях и характеристика материалов батарей следующего поколения
-
Чт, 27 окт.
Вебинар
Решения для визуализации и микроанализа литий-ионных аккумуляторов с использованием SEM, EPMA (электронно-зондовый микроанализатор), SXES и Auger
декабрь
-
Вт, 6 дек.
Вебинар
STEM-визуализация и спектроскопия энергетических материалов
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)