Центр решений JEOL-Nikon CLEM
Услуги
Компания JEOL Ltd. (президент Гон-эмон Курихара) рада сообщить, что 1 сентября 2017 г. был создан совместный проект Nikon и JEOL Ltd. «Центр решений JEOL-Nikon CLEM». & D Создание JEOL для предоставления опыта, сбора и предоставления технической информации о передовых решениях CLEM*.
* CLEM: корреляционная световая и электронная микроскопия
Обзор центра решений JEOL-Nikon CLEM
| Адрес | JEOL Ltd., Мусасино 3-1-2, Акисима, Токио |
|---|---|
| Основные установки | Оптические микроскопы (стереомикроскопы, промышленные микроскопы, системы конфокальных лазерных микроскопов)
электронные микроскопы (просвечивающие электронные микроскопы, сканирующие электронные микроскопы, электронно-зондовые микроанализаторы) и различные типы оборудования для пробоподготовки |
| Телефон: | +81-3-6262-3567 |
| демонстрация | Пожалуйста, свяжитесь с Центром, чтобы организовать демонстрацию. Демонстрации проводятся только по предварительной записи. |
CLEM — это эффективный метод наблюдения и анализа, который сочетает в себе преимущества двух типов микроскопов: оптических микроскопов, которые позволяют проводить быстрое широкоугольное наблюдение и получать информацию о положении и локализации молекул, и электронных микроскопов, которые позволяют получать мельчайшие данные о структуре путем наблюдения. образцов с высоким пространственным разрешением. В последние годы потребность в более эффективном использовании CLEM путем объединения оптических и электронных микроскопов с помощью программного обеспечения возросла в передовых исследованиях в области биологических наук и разработки материалов.
В 2013 году компания JEOL в сотрудничестве с Nikon разработала «Систему оптической и сканирующей электронной микроскопии miXcroscopy™ Linked». Кроме того, в феврале 2014 года JEOL подписала соглашение об инвестиционном и деловом союзе с Nikon и способствовала сотрудничеству между двумя компаниями для создания решения CLEM, объединяющего оптические микроскопы Nikon и электронные микроскопы JEOL, а также расширения возможностей разработки продуктов и продаж.
В новом Центре решений мы представим «miXcroscopy™» и предложим решения CLEM для продвижения использования CLEM. Мы также будем собирать и предоставлять информацию, которая улучшит технологию CLEM посредством диалога с нашими клиентами и внесет свой вклад в создание новых преимуществ в области биологических наук и исследований в области разработки материалов.
Пример: CLEM наблюдение инородных материалов на стеклокерамике
Обнаружение посторонних веществ с помощью оптического микроскопа (слева), получение изображения с высоким разрешением с помощью электронного микроскопа (в центре) и анализ их состава с помощью характеристического рентгеновского анализа с использованием электронного микроскопа (справа). В результате инородное вещество идентифицируется как железо. CLEM обеспечивает быстрое и точное обнаружение, идентификацию и анализ посторонних веществ, а также более эффективную проверку и анализ качества продукции, способствуя повышению производительности на заводах и в лабораториях.