Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT300HR InTouchScope™

JSM-IT300HR — это новая модель серии JEOL InTouchScope.
Оснащенный новой электронной пушкой высокой яркости и оптической системой, JSM-IT300HR обеспечивает превосходное качество изображения и анализа с высокой чувствительностью и высоким пространственным разрешением.
Этот новый передовой SEM обеспечивает превосходную производительность, сохраняя при этом высокую работоспособность, основанную на отмеченной наградами серии InTouchScope.

Особенности

Превосходная производительность

Высокая функциональность: электронная пушка высокой яркости для значительного сокращения шагов настройки от наблюдения до анализа

Даже в аналитических условиях (рабочее расстояние 10 мм, ток зонда 1 нА) JSM-IT300HR обеспечивает четкое изображение при большом увеличении в 100,000 XNUMX раз.

Обычный W-SEM

Четкое изображение с увеличением x100,000 XNUMX можно получить в условиях наблюдения (слева), но изображение размывается в аналитических условиях (справа).  

x100,000 1 Условия наблюдения (XNUMX пА)
Образец: частицы Au

x100,000 1 Аналитическое условие (XNUMX нА)
Образец: частицы Au

ДЖСМ-ИТ300HR

JSM-IT300HR обеспечивает четкое изображение даже в аналитических условиях.

Наблюдение: легкое наблюдение даже при низком ускоряющем напряжении и в режиме низкого вакуума.

• Поскольку JSM-IT300HR обеспечивает высококачественное изображение даже при большом увеличении от 50,000 100,000 до XNUMX XNUMX раз, тонкие структуры легко различимы.
• Низковольтная визуализация и визуализация в низковакуумном режиме также обеспечивают высококачественное наблюдение изображения, поэтому чувствительный к лучу образец наблюдается с меньшим тепловым повреждением, а тонкие структуры изоляционного материала легко наблюдаются.

Низкое ускоряющее напряжение

• Уменьшенная зарядка
• Уменьшение термического повреждения из-за лучевого облучения

Образец: Нановолокна целлюлозы без покрытия (CNF)
Тонкие структуры каждого волокна хорошо видны при большом увеличении даже при 1 кВ.
Ускоряющее напряжение: 1 кВ, увеличение: х30,000 XNUMX
Высоковакуумный режим, изображение во вторичных электронах

Образец предоставлен профессором Х. Яно и ассоциированным профессором К. Абэ,
лаборатория Научно-исследовательского института активных биоматериалов для устойчивой гуманосферы,
Киотский университет

Низковакуумный режим и низкое ускоряющее напряжение

• Уменьшенная зарядка
• Уменьшение термического повреждения из-за лучевого облучения
• Высокое пространственное разрешение

Образец: Непокрытое поперечное сечение оптической тонкой пленки шлифованного стекла синего света, обработанного с помощью системы сфокусированного ионно-лучевого пучка JIB-4000.
В низковакуумном режиме хорошо видна изолированная оптическая тонкая пленка без проводящего покрытия.
Ускоряющее напряжение: 3 кВ, увеличение: х50,000 XNUMX
Низковакуумный режим, изображение состава обратно рассеянных электронов

Элементный анализ: ACL (линза с контролем угла апертуры) для анализа гладких элементов в субмикрометровой области

Более простой и быстрый сбор данных

• Встроена функция «умной» сенсорной панели для интуитивного управления, которая является особенностью серии InTouchScope.
• Рецепты встроены в зависимости от категории образца и области применения. Эти рецепты автоматически настраивают условия РЭМ, оптимизированные для наблюдения и анализа образцов любого типа.
• Опциональная система навигации сцены значительно облегчает поиск в поле наблюдения. Полностью встроенная ПЗС-камера перемещается по цветному изображению. При двойном щелчке по цветному изображению столик быстро перемещается в поле наблюдения.

Характеристики

Знакомство с продуктами JEOL

Растровые электронные микроскопы (РЭМ, SEM)

Подробнее