Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

Дифференциальный анализ полиэтилентерефталата, разлагаемого УФ-излучением, с использованием JMS-S3000 «SpiralTOF™-plus2.0» и «msRepeatFinder»

MSTips №422

Введение

Времяпролетная масс-спектрометрия с лазерной десорбцией/ионизацией с использованием матрицы (MALDI-TOFMS) является мощным инструментом анализа полимеров. Поскольку MALDI в основном генерирует однозарядные ионы, м / г в масс-спектре - масса полимерного иона. Использование MALDI-TOFMS с высоким разрешением по массе позволяет легко различать серии полимеров по составу повторяющихся звеньев и концевых групп и вычислять молекулярно-массовое распределение каждой серии. Недавно метод дефекта массы Кендрика (KMD) позволил легко визуализировать серию полимеров в сложных масс-спектрах высокого разрешения по массе. Концевые группы полимеров разрушаются под воздействием тепла или света, а также при обработке кислотами или щелочами. В этом примечании по применению мы сообщаем о применении функции дифференциального анализа, реализованной в msRepeatFinder, к анализу концевых групп полиэтилентерефталата (ПЭТФ), который был разрушен УФ-облучением.

Рисунок 1 Структурная формула ПЭТ

Эксперимент

В качестве образцов использовали коммерчески доступные ПЭТ-пленки. Одна из пленок была подвергнута УФ-облучению в течение 30 минут для ее разрушения. Матрица представляла собой моногидрат 2',4',6'-тригидроксиацетофенона (THAP), а катионизирующий агент - трифторацетат натрия (NaTFA). Каждую пленку закрепляли на пластине токопроводящей лентой, а смесь матрицы и катионизатора наносили и сушили на воздухе поверх пленки. Масс-спектры в режиме SpiralTOF JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus2.0" регистрировали три раза для каждой пленки, а анализ KMD выполняли с использованием msRepeatFinder V6.

Результат

На рис. 2 представлены масс-спектры до (а) и через 30 мин после УФ-облучения (б). Хотя в обоих масс-спектрах наблюдаются группы пиков с интервалом 192u, изменение м / г наблюдаемое до и после деградации указывает на то, что концевые группы изменились. График KMD списков пиков двух масс-спектров (базовая единица C10H8O4 , делитель 191)(c) наложен ниже. Ряд полимеров, параллельный оси абсцисс на графике КМД, имеет разные концевые группы.

Рисунок 2 Масс-спектры ПЭТФ до (а) и после (б) УФ-разложения. Также показан наложенный график KMD (c)

При дифференциальном анализе пики в масс-спектрах образцов до и после УФ-деструкции (по три пика в каждом) считались идентичными, если ошибки их масс не превышали 10 мДа. На рис. 3 представлены усредненные масс-спектры до и после УФ-облучения. Здесь интенсивности ионов нормированы так, чтобы интенсивности ионов всего масс-спектра были одинаковыми. На рис. 4а показан вулканический график результатов дифференциального анализа. Горизонтальная ось - Log2 (средняя интенсивность ионов до разложения УФ-излучением/средняя интенсивность ионов после разложения под действием УФ-излучения), вертикальная ось -Log10 (р-значение). На рисунке 4b графики KMD (базовый блок C10H8O4, делитель 191) показаны в виде графиков КМД. Синие и светло-голубые графики представляют собой характерные пики до разложения под действием УФ-излучения, а красные — характерные пики после разложения под воздействием УФ-излучения. Таким образом, дифференциальный анализ позволяет выделить группу пиков, характерных до и после УФ-деградации. В результате оценки состава концевых групп установлено, что основным компонентом до УФ-облучения является циклический олигомер, а основным компонентом после УФ-разложения является ряд карбоновых кислот на обоих концах (все [M+Na]+ ).

Рисунок 3 Усредненные масс-спектры ПЭТФ до (синий) и после (красный) УФ-разложения.

Рисунок 4 Вулканический график дифференциального анализа (а) и график КМД характерных пиков в масс-спектрах до и после УФ-облучения. 

Резюме

В этом примечании по применению мы показали, что функцию анализа различий msRepeatFinder можно использовать для визуализации различий в концевых группах ПЭТ до и после УФ-деградации. Высокое массовое разрешение JMS-S3000 позволяет нам визуализировать разницу разделенных концевых групп, что полезно для анализа полимеров.

Решения по областям применения

Сопутствующие продукты

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Времяпролетный масс-спектрометр с матричной лазерной десорбцией/ионизацией

Программное обеспечение для анализа полимеров msRepeatFinder

Категория продукта

Закрыто
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы инструментов JEOL

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Мы ждем ваших запросов!