Монокристаллический анализ с помощью XtaLAB Synergy-ED　

Новый метод определения структуры субмикронных частиц　

Слева: изображение дифлубензурона в обратнорассеянных электронах в режиме LV, JCM-7000 NeoScope™.
Справа: электронно-дифракционный структурный анализ дифлубензурона, XtaLAB Synergy-ED.

XtaLAB Synergy-ED — это полностью оптимизированный дифрактометр электронов для анализа микрокристаллов, разработанный совместно обеими компаниями: Rigaku Corporation и JEOL Ltd. XtaLAB Synergy-ED оснащен высокоскоростным и высокочувствительным детектором счета фотонов Rigaku (HyPix-ED) и современное управление прибором с помощью программной платформы для анализа монокристаллов (CrysAlis^Pro для ЭД). Ключевая характеристика этого продукта предоставляет исследователям простую и эффективную платформу для электронной кристаллографии. В приведенном выше примере справа показан результат структурного анализа дифлубензурона (C₁₄H₉КлФ₂N₂O₂).

Базовые приготовления

Никакой подготовки образца не требуется: загрузите образец непосредственно на сетку TEM следующим образом. Если у вас крупные частицы, измельчите их предметным стеклом или шпателем до мелкого размера.

Поместите образец на предметное стекло микроскопа.

Прикрепите образец непосредственно к сетке TEM и стряхните лишние частицы.

Вставьте сетку в держатель образца.

Эксперименты 3D ED/microED 　

КрисАлис_Pro для ED позволяет легко переключаться между визуальным режимом и режимом дифракции. В визуальном режиме нажмите на соответствующую частицу и кнопку Diff.exp в меню MicroED Stage Control, чтобы переключиться в режим дифракции. Затем нажмите кнопку «Начать эксперимент» в окне MicroED/3D ED DC, чтобы автоматически начать наблюдение дифракции электронов. Диапазон вращения, используемый для типичных измерений, составляет от –60 до +60 градусов.

Ищите кристаллы в визуальном режиме.

Нажмите кнопку «Начать эксперимент».

Автоматический запуск наблюдения дифракции электронов.

Структурный анализ

В КрисАлисе_Pro для ЭД Autochem выполняет полностью автоматическое определение и уточнение структуры во время сбора данных. Кроме того, также можно вручную анализировать структуру с помощью эффективных и действенных функций и объединять набор данных, полученный из нескольких кристаллов, для повышения полноты данных.

Обнаружение пиков и определение элементарной ячейки.

Автоматическое или интерактивное сокращение данных.

Уточнение структуры

КрисАлис_Pro for ED позволяет плавно перейти на Olex2. Интуитивно понятный пользовательский интерфейс позволяет создавать и совершенствовать молекулярную структуру.

Решения по областям применения

Другое

Сопутствующие продукты

Электронный дифрактометр XtaLAB Synergy-ED

JCM-7000 NeoScope™ Настольный РЭМ

Связанная информация

Научные приборы