Корпорация ДИК
Столетие доверия, вызовы для следующего поколения (версии для ТЭМ и СЭМ)
DIC Corporation — глобальный производитель химической продукции, занимающий лидирующие позиции в мире на рынке печатных красок. Компания с более чем 100-летней историей постоянно стремится создавать новые ценности. Ее Центральные научно-исследовательские лаборатории в городе Сакура, префектура Тиба, ставят перед собой цель создавать предприятия нового поколения, гармонично взаимодействующие с окружающей средой. Развивая свои основные технологии, такие как «цветовая инженерия», «дисперсия», «оценка применения», «проектирование органических материалов» и «проектирование полимеров», компания также осваивает новые области, такие как «проектирование неорганических материалов» и «проектирование биоматериалов».
В Центре передовых исследований (ЦПИ), который поддерживает научно-исследовательскую деятельность, используются различные аналитические технологии для анализа иерархических структур от нано- до макроуровня. Эти усилия способствуют выяснению функций материалов и разработке процессов, ориентированных на коммерциализацию.
В подобных ситуациях аналитические приборы JEOL, такие как TEM, SEM и NMR, используются в качестве незаменимых инструментов для рутинного наблюдения, анализа и структурной оценки.
Мы опросили исследователей, использующих эти инструменты, о причинах внедрения TEM и SEM, об их пользовательском опыте и качестве сервисной поддержки.
▼ Введение в ЯМР-спектроскопию см. ниже.
Столетие доверия, вызовы для следующего поколения (версия ЯМР)
DIC Corporation — глобальный производитель химической продукции, занимающий лидирующие позиции в мире на рынке печатных красок. Компания с более чем 100-летней историей постоянно принимает вызов создания новой ценности. Мы взяли интервью у представителей DIC Corporation о том, как аналитические инструменты JEOL, такие как TEM, SEM и NMR, используются в качестве незаменимых средств для рутинного наблюдения, анализа и структурной оценки.
Помимо производительности, решающими факторами являются простота использования и искренняя поддержка.
— Каково ваше впечатление от TEM компании JEOL?
Uota: В ближайшем будущем мы планируем представить JEM-F200(TEM), и за выбор модели отвечают г-н Кавагучи и г-жа Оцубо.
Кавагути: Как пользователь, я ценю возможность тщательной проверки состояния прибора и необходимых параметров в случае возникновения каких-либо проблем. Такая прозрачность чрезвычайно полезна.
Оцубо: У нас сложилось впечатление, что в отношении JEOL, когда мы обращаемся к ним с просьбой, они прилагают искренние усилия для ее удовлетворения. Это одна из ключевых причин, по которой мы в конечном итоге решили выбрать JEOL.
Кавагути: Думаю, что программное обеспечение и услуги могут стать конкурентным преимуществом, помимо характеристик самого инструмента.
Uota: После внедрения этой технологии я хотел бы попробовать такие вещи, как автоматизированные измерения.
— Каково ваше впечатление от SEM компании JEOL?
Фуджино: В прошлом мы выбирали JSM-7800F. У меня сложилось впечатление, что программное обеспечение было простым в использовании, а система — надежной и долговечной.
— Ваша компания использует продукцию JEOL уже много лет. Заметили ли вы какие-либо особые преимущества у последних моделей?
Слева направо: г-жа Фуйно, г-жа Оцубо.
Фуджино: В частности, при работе с СЭМ я заметил, что вакуумная откачка значительно ускорилась. Вы загружаете образец, и прежде чем вы это заметите, процесс уже завершен.
Оцубо: Ещё я заметил улучшение стабильности. Когда мы установили JSM-IT800, он был практически стабилен и готов к использованию сразу после доставки с завода, что впечатляет.
Слева направо: доктор Уота, доктор Ёсимура.
Йошимура: Я считаю, что пользовательский интерфейс очень важен. Например, наличие рабочего процесса, который плавно переходит справа налево, чтобы каждая задача выполнялась без проблем, или использование интуитивно понятных и простых в использовании значков. В этом отношении настольный СЭМ вашей компании, Nanamaru-kun (JCM-7000), превосходен. Конечно, он также очень удобен в использовании.
Ускорение цикла исследований и разработок с помощью высокотехнологичных приборов
— Как вы используете высококачественные инструменты?
Какие виды образцов вы рассматриваете?
Оцубо: Мы изучаем широкий спектр образцов, от неорганических до органических материалов. В последнее время, похоже, мы больше работаем с неорганическими материалами для просвечивающей электронной микроскопии.
Кавагути: Это правда. Что касается органических материалов, мы внедрили OBF(*1) или EDM(*2), которые позволяют проводить наблюдения с меньшим повреждением образцов, с помощью JEM-ARM300F. Это те области, которые традиционно представляли собой сложную задачу для электронных микроскопов. Но поскольку органические материалы являются нашим основным направлением исследований в DIC, мы хотели бы активно использовать эти возможности. На академических конференциях уже было представлено довольно много докладов по OBF, поэтому мы хотели бы не отставать и идти в ногу со временем.
*1 Метод OBF (оптимальное светлое поле): Высокочувствительная методика наблюдения, разработанная недавно. Она хорошо подходит для образцов, чувствительных к электронным пучкам или содержащих легкие элементы.
*2 EDM (электростатический модулятор дозы): система, позволяющая быстро и количественно контролировать объем облучения электронными пучками, воздействующими на образец, при сохранении стабильности микроскопа.
— Высококачественные инструменты требуют значительных инвестиций. Оправдалось ли их внедрение?
Uota: Приборы используются практически ежедневно. Наличие собственных приборов внутри компании крайне важно для ускорения цикла исследований и разработок. Для внедрения этих приборов мы представляем руководству данные, наглядно демонстрирующие необходимость их использования и полезность для компании. Кроме того, при объяснении нашей работы клиентам данные изображений очень наглядны и легко воспринимаются, что делает их особенно полезными.
— Как вы находите Gather-X(*3) (EDS), который вы представили для SEM?
Оцубо: Многие из образцов, которые мы исследуем, представляют собой органические материалы. Поэтому мы используем его в основном для наблюдения за легкими элементами. На практике мы были удивлены довольно высокой чувствительностью обнаружения. Он обладает всеми необходимыми нам функциями, и мы считаем, что этого более чем достаточно для наших задач.
*3 Gather-X: детектор EDS, который можно установить на JSM-IT800. Его безрамочная конструкция (материал, покрывающий детектор, отсутствует) обеспечивает высокочувствительный анализ световых элементов, что обычно затруднительно при использовании обычных систем EDS.
Быстрая и внимательная поддержка — почему сервис JEOL заслуживает доверия.
— Как вы оцениваете сервис и поддержку приложений компании JEOL?
Господин Кавагучи
Кавагути: Они быстро реагируют, что для нас крайне важно. Иногда мы обращаемся с просьбами, которые могут показаться сотрудникам отдела продаж довольно требовательными, но они искренне отвечают, четко говоря: «Мы можем сделать это до этого момента» или «Мы не можем сделать это». Тот факт, что они поддерживают с нами тесный контакт, также создает у нас ощущение, что они действительно вовлечены в процесс и работают вместе с нами.
Uota: Когда возникают проблемы, служба поддержки обычно реагирует очень быстро — часто в течение дня. Я пользуюсь микроскопами еще со студенческих лет, и с тех пор меня поддерживает компания JEOL.
Йошимура: В период пандемии COVID-19 у нас не было такой возможности, но в течение последних семи-восьми лет мы проводили технические встречи по обмену опытом в области СЭМ с сотрудниками отдела применения компании JEOL. Возможность напрямую обсуждать наши проблемы очень ценна. Кроме того, СЭМ установлены не только в центральных исследовательских лабораториях, но и на различных заводах. Таким образом, мы можем обмениваться знаниями между подразделениями и широко их использовать. В этом смысле мы считаем, что JEOL оказывает всестороннюю и технически грамотную поддержку.
На фото слева направо: д-р Уота, г-н Касаи, г-жа Оцубо, г-н Кавагути, г-жа Фудзино, д-р Йошимура.
*Данная статья основана на интервью, проведенном командой А, состоящей из 40 человек.th Комитет КФ.
