Криоманжета™ 200S
Криоэлектронный микроскоп с полевой эмиссией

Добро пожаловать в мир сверхвысокого разрешения и красоты.

Автоматизация на основе искусственного интеллекта и более высокая производительность делают криоэлектронную микроскопию JEOL быстрее, воспроизводимее и доступнее для каждого оператора. Новейший криоэлектронный микроскоп JEOL с холодной полевой эмиссией 200 кВ предлагает анализ отдельных частиц (SPA), криоэлектронную томографию (cryo-ET), 3DED/MicroED и многое другое — все в одном высокоавтоматизированном приборе. CRYO ARM™ 200S разработан для получения структурных данных высокого разрешения со стабильностью, производительностью и простотой использования, которые требуются современным лабораториям структурной биологии и разработки лекарств.

Особенности

CRYO ARM™ 200S × SmartScope
Сбор данных для анализа отдельных частиц с помощью искусственного интеллекта.

SmartScope ¹ Это программное обеспечение с открытым исходным кодом, поддерживающее сбор данных при анализе отдельных частиц. Используя искусственный интеллект, оно автоматически определяет области, подходящие для визуализации, и может автоматизировать весь процесс вплоть до сбора данных. Кроме того, благодаря интуитивно понятному пользовательскому интерфейсу, который упрощает рабочий процесс и сводит к минимуму необходимые настройки, даже новички могут добиться стабильного сбора данных независимо от уровня опыта.

1. Джонатан Буветт и др., eLife, 11: e80047 (2022).

Процесс

Интерфейс

CRYO ARM™ 200S × Системные инновации
Высокая производительность, простота в эксплуатации

Интеллектуальная система переноса образцов CRYO SPECPORTER™-S

Усовершенствованный CRYO SPECPORTER™ -S разделяет хранилище для консервации образцов и передаточные магазины, используемые для обмена образцами. Это позволяет избирательно обрабатывать только те образцы, которые необходимы во время анализа, исключая необходимость загрузки и выгрузки всех образцов из прибора при обмене. Это обеспечивает стабильную и эффективную работу даже в многопользовательских средах.

Улучшенная система работы с картриджами благодаря увеличенной пропускной способности.

Количество картриджей, которые можно одновременно зарядить в магазин, увеличилось с четырех до шести, что сократило частоту и время, необходимые для замены образцов, повысило производительность при сохранении стабильных условий хранения образцов.

"Бесконечные" возможности многосеточной визуализации

Гибкая система переноса образцов позволяет выборочно заменять только необходимые образцы. В многосеточной визуализации анализируемые образцы можно заменять по мере необходимости, при этом новые образцы предварительно загружаются, что обеспечивает непрерывную работу в течение ночи и максимизирует эффективность сбора данных.

Хранение образцов в чистом помещении.

Хранение осуществляется в вакууме и при температуре жидкого азота, что позволяет хранить образцы в чистом состоянии, без образования льда, в течение приблизительно одного месяца. Это обеспечивает гибкое управление образцами в соответствии с графиком анализа.

Луч, разработанный для максимальной информативности.

Система CRYO ARM™ 200S обеспечивает освещение без интерференционных полос, что предотвращает их появление во время визуализации. Благодаря эффективному использованию пучка, данные можно получать с высокой пропускной способностью, минимизируя при этом повреждение образца.

Повышенная гибкость электронного пучка

Семь оптимизированных условий получения пучка без интерференционных полос для каждого размера апертуры обеспечивают идеальное освещение широкого спектра образцов.

Увеличенный срок службы расходных материалов для снижения затрат на техническое обслуживание.

Рутсовые насосы используются благодаря увеличенным интервалам технического обслуживания, что сокращает время простоя и обеспечивает высокую надежность работы системы.

Характеристики

Основной инструмент

Предметный стол / Автоматизированная система обмена образцами

Связанные товары

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

Эта система CRYO-FIB-SEM включает в себя охлаждающий этап жидким азотом и механизм переноса криоохлажденных образцов для замороженных образцов, что позволяет готовить образцы для ПЭМ, такие как биополимеры. Механизм переноса образцов имеет встроенную функцию покрытия распылением. Таким образом, эта система CRYO-FIB-SEM может самостоятельно выполнять ряд процессов для создания образцов для ПЭМ из замороженных образцов, включая нанесение покрытия проводимости, формирование защитной пленки и обработку FIB. Кроме того, при использовании картриджа CRYO ARM™ компании JEOL прямой перенос образцов в CRYO ARM™ после подготовки образцов для ПЭМ становится проще.

Электронный микроскоп JEM-120i

JEM-120i — это недавно разработанный просвечивающий электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 120 кВ, основанный на концепциях «Компактный», «Простой в использовании» и «Расширяемый». Благодаря новому внешнему виду этот прибор превратился в полезный инструмент, который может легко использовать каждый, от эксплуатации до обслуживания.

Электронный дифрактометр XtaLAB Synergy-ED

XtaLAB Synergy-ED — это совершенно новый электронный дифрактометр, созданный на основе синергии основных технологий Rigaku и JEOL.
Благодаря интеграции процесса от выбора образцов для измерений (нанокристаллов) до сбора и анализа данных, структурный анализ с помощью электронной дифракции может быть легко использован неспециалистами, не имеющими требуемых обычно знаний в области электронной микроскопии и кристаллографии.

Высокочувствительная КМОП-камера серии SightSKY™ с низким уровнем шума и оптоволоконным соединением

Высокочувствительный, малошумящий 19-мегапиксельный КМОП-датчик позволяет получать изображения с высокой детализацией образца и высоким отношением сигнал/шум даже при низких дозах электронов. Глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полный пиксель) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамических наблюдений in situ. Система камер SightSKY™ обеспечивает интеграцию с интегрированной аналитической платформой FEMTUS™ компании JEOL, обеспечивая удобство эксплуатации и сбора данных.

Подробнее