ДЖЕМ-120и
Электронный микроскоп

Это полезный инструмент для каждого пользователя!

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) с ускоряющим напряжением 120 кВ широко используются в областях мягких материалов, таких как биология и полимеры. Мы недавно разработали JEM-120i, придерживаясь концепции «компактности», «простоты в использовании» и «расширяемости». Благодаря новому внешнему виду этот прибор превратился в полезный инструмент, которым может легко пользоваться каждый, от эксплуатации до обслуживания.

Особенности

компактный

Благодаря значительному уменьшению размера JEM-120i имеет положение замены нити и положение вставки держателя образца ниже, чем у существующих инструментов. Недавно разработанный блок накаливания картриджного типа помогает сделать замену нити простой и безопасной для всех.

На передней панели прибора имеется светодиодный индикатор, цвет которого меняется в зависимости от состояния ТЭМ. Определить его рабочее состояние можно на расстоянии.

Простое управление

Наблюдение за образцом с простым управлением

От загрузки образца до завершения наблюдения требуется всего 4 шага. После установки держателя образца нажатие кнопки «Пуск» автоматически выполняет операции подготовки к наблюдению, такие как повышение напряжения и начало излучения. Одновременно захватывается широкомасштабное изображение. Таким образом, щелчок по целевому полю переместит сцену в выбранное положение. 

Поскольку стандартный «режим дворецкого» облегчает сбор данных, даже новичок может легко собирать данные. По завершении наблюдения вы можете заменить держатель образца, не отключая излучение.

Наблюдение за образцом в 4 этапа

Бесшовное наблюдение без переключения режима увеличения

JEM-120i оснащен усовершенствованной системой управления ТЭМ и полностью автоматизированной диафрагмой, исключающей необходимость переключения режимов увеличения и выбора диафрагмы. Операции наблюдения могут выполняться более плавно, чем в предыдущих моделях.

Расширяемость

JEM-120i поддерживает различные модификации. Это также удовлетворяет потребность в дополнительных функциях после покупки. 

Видео

Связанная ссылка

Выпуск Новостей

-Полезный инструмент для каждого пользователя! - Выпущен новый электронный микроскоп JEM-120i

Характеристики

• 1 (HC): Конфигурация с высокой контрастностью.

• 2 (HR): Конфигурация высокого разрешения.

Скачать буклет

Электронный микроскоп JEM-120i

Приложения

CryoNote

Наблюдение за биологическим образцом с помощью JEM-1400Flash ー Поток от подготовки образца до наблюдения ー

CLEMnote

Изображение почки мыши, полученное с помощью сверхширокой просвечивающей электронной микроскопии

Наблюдение за обширной областью с использованием оконного чипа SiN

Золотые частицы, съеденные парамецием

SiN Window Chip и его приложения

Наблюдение за обширной областью с использованием оконного чипа SiN

Сверхширокое высокоточное изображение получается за счет использования SiN Window Chip и функции автоматической системы монтажа "Limitless Panorama (LLP)".

Изображение почки мыши, полученное с помощью сверхширокой просвечивающей электронной микроскопии

Ультратонкие срезы почки мыши, установленные на SiN Window Chip, визуализировали с использованием функции Limitless Panorama (LLP) — автоматизированной системы монтажа.

Золотые частицы, съеденные парамецием

Парамеций, культивируемый в культуральной среде с наночастицами золота, наблюдали с помощью LM и TEM, и изображения накладывались друг на друга. Золотые частицы наблюдались только в оранжевой люминесцентной области.

Связанные товары

SightSKY (EM-04500SKY) Высокочувствительная КМОП-камера с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума

• Высокочувствительный 19-мегапиксельный CMOS-сенсор с низким уровнем шума обеспечивает более четкое изображение с мельчайшими деталями образца, наблюдаемыми даже при низких дозах электронов.

• Его глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полнопиксельный режим) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамического наблюдения.

• Программное обеспечение для управления камерой SightX обеспечивает удобное управление.

Оконный чип SiN

Высокопрочная пленка SiN позволяет нам наблюдать последовательно большую область размером в миллиметр. Он также идеально подходит для наблюдения за последовательно нарезанными срезами, поскольку в нем нет невидимой области, которая возникает при использовании обычных сеток ПЭМ. Специальный фиксатор упрощает проведение корреляционной световой и электронной микроскопии (CLEM).

Подробнее