JCM-7000Плюс
Настольный СЭМ NeoScope™
Наблюдайте за настоящим моментом. Действуйте следующим образом.
Наблюдение в реальном времени, в улучшенном виде. Настольный сканирующий электронный микроскоп.
Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000Plus превращает обычное наблюдение в мгновенный анализ. Сочетая высококачественное изображение, получаемое с помощью сканирующего электронного микроскопа, с анализом элементов в реальном времени и автоматизированными рабочими процессами, этот настольный микроскоп помогает пользователям быстро понять свойства своих образцов и уверенно перейти к следующему этапу.
Будь то проверка материалов, исследование дефектов или контроль качества, прибор JCM-7000Plus предоставит вам необходимую информацию — тогда, когда она вам нужна.
Особенности
Наблюдайте за «сейчас»
От простого наблюдения с помощью сканирующего электронного микроскопа до анализа в реальном времени.
Действуйте "Далее"
Высококачественные данные для обоснования вашего решения.
Zeromag
Бесперебойная работа от оптической до SEM-визуализации.
При увеличении оптического изображения происходит автоматическое переключение на изображение, полученное с помощью сканирующего электронного микроскопа.
• Простая процедура осмотра, не требующая предварительной обработки в стандартном режиме низкого вакуума.
• Кроме того, JCM-7000Plus автоматически регулирует контрастность и яркость, фокусировку и астигматизм для быстрого получения высококачественных изображений SEM.
Образец: Соль
Образцы: Таблетка и зуб акулы
Расширенные четыре функции Live
Получите мгновенное представление о вашем образце во время наблюдения.
01. Анализ в режиме реального времени
Элементный анализ в ходе наблюдения
JEOL — один из немногих производителей, разрабатывающих электронные микроскопы и системы энергодисперсионной спектроскопии (ЭДС) собственными силами. Рентгеновский спектр исследуемой области и основные элементы, идентифицированные после автоматической проверки, могут отображаться на экране наблюдения в режиме реального времени. Наблюдение и элементный анализ могут проводиться на одном экране, что обеспечивает бесперебойный анализ без прерывания рабочего процесса. Кроме того, поскольку электронные микроскопы и ЭДС интегрированы в конструкцию, возможно проведение автоматизированных измерений (NeoAction).
Изображение и элементный анализ на одном экране.
Образец: Сплав
02. Живая карта
Визуализирует распределение элементов.
в настоящее время
Образец: Поверхность излома металла
03. Живое 3D
Мгновенно выявляет топографию поверхности.
Образец: Поперечное сечение электронного компонента
04. Живые частицы
Автоматическое измерение размера частиц
Частицы автоматически обнаруживаются на изображении, полученном с помощью сканирующего электронного микроскопа. Распределение частиц по размерам, средний размер частиц и вариации могут быть получены в режиме реального времени.
Образец: Частицы оксидов кремния
Режим низкого вакуума
Наблюдайте за образцами в их естественном состоянии, без предварительной обработки.
При облучении непроводящего (изолирующего) образца электронным пучком электроны накапливаются на его поверхности, вызывая явление, известное как «зарядка». Это может привести к размытым изображениям, искажениям и шуму изображения. В режиме низкого вакуума стабильное наблюдение возможно путем подачи газа или воздуха в камеру образца для уменьшения заряда. Изолирующие образцы, такие как стекло и керамика, а также образцы, содержащие влагу/легко заряжающиеся, такие как пищевые продукты, полимеры и живые организмы, могут быть исследованы и проанализированы без необходимости нанесения покрытия.
Быстрое наблюдение и анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа без предварительной обработки образца.
- Пример режима низкого вакуума -
Почему бы не исследовать непроводящие изоляционные образцы в сканирующем электронном микроскопе без какой-либо предварительной обработки? Здесь мы приводим примеры эффективного применения микроскопа JCM-7000 в режиме низкого вакуума (НВ) для полимерных материалов, промышленных материалов, минералов, пищевых продуктов, а также биологических и растительных образцов.
Автоматическая настройка изображения x Режим высокого вакуума x Высокое разрешение
Достигнуто разрешение 6 нм
В JCM-7000Plus используется Напряжение при посадке (ускоряющее напряжение) до 20 кВ! Усовершенствованная функция автоматической корректировки изображения и проверенный режим высокого вакуума из предыдущей модели позволили еще больше повысить разрешение! Наблюдение с высоким разрешением и высокоточный анализ EDS обеспечивают более высокое качество данных.
Образец: Частицы оксида цинка
Образец: хитиновые нановолокна
(с использованием упрощенного держателя STEM)
Образец предоставлен компанией OMURATORYO Co., Ltd.
Образец: Строительный материал, содержащий асбест.
Режим высокого вакуума
Высокоточное наблюдение и анализ
В режиме высокого вакуума рассеяние электронов минимально, и вторичные электроны эффективно детектируются, что позволяет четко наблюдать микроструктуры при больших увеличениях. Кроме того, в EDS-анализе возможен элементный анализ с уменьшенной качественной погрешностью. Несмотря на то, что это настольный СЭМ, он обеспечивает высокоточные данные как для морфологического наблюдения, так и для элементного анализа.
Расширенные автоматизированные функции
Нео Экшен
Автоматизация повторяющихся измерений
Функция Neo Action (опция) в сканирующем электронном микроскопе позволяет автоматически наблюдать/анализировать образец, изменяя такие условия, как напряжение/сигналы при посадке, автоматическую настройку изображения и изменение положения в соответствии с предопределенными рабочими процессами, как если бы им управлял оператор.
Это позволяет выполнять рутинную работу в автоматическом режиме, от сбора данных до создания отчетов.
Монтаж
Автоматический сбор данных с обширной территории.
Это функция, которая автоматически определяет область заданной ширины в миллиметровом масштабе.
Сканирующий электронный микроскоп автоматически перемещает предметный столик и захватывает изображения, а затем сшивает полученные изображения для создания изображения большой области или карты.
Благодаря возможности получения изображений с высоким разрешением по большому полю зрения, этот метод позволяет проводить анализ от общей структуры до локализованных областей и предоставляет данные, которые легко понять даже пользователям, не проводившим измерения.
Анализ множественных полей зрения
Автоматическое измерение нескольких полей
Автоматическое измерение в нескольких точках возможно даже при разных полях зрения, достаточно указать условия съемки и область анализа. Высокоточное управление предметным столиком обеспечивает стабильный сбор данных.
Характеристики
Основные технические характеристики
| Разрешение | 6.0 нм (20 кВ, рабочее расстояние 12 мм, режим высокого вакуума, изображение вторичных электронов) 8.0 нм (20 кВ, WD12 мм, режим высокого вакуума, изображение в обратнорассеянных электронах) |
|---|---|
| Прямое увеличение | ×10–100,000 XNUMX XNUMX (Увеличение определяется размером 128 мм × 96 мм) |
| режим | Режим высокого вакуума: изображение вторичных электронов, изображение обратнорассеянных электронов. (композиция, топографические и теневые элементы, 3D-изображения) Режим низкого вакуума: изображение обратнорассеянных электронов (композиция, топографические и теневые элементы, 3D-изображения) |
| Посадочное напряжение (Ускоряющее напряжение) |
5 кВ, 10 кВ, 15 кВ, 20 кВ (4 ступени) |
| Источник электронов | Вольфрамовая нить/интегрированная сетка Вельнельта |
| Стадия образца | Приводной каскад двигателя XY X: 40 мм Y: 40 мм |
| Максимальный размер образца | диаметр 80 мм × высота 50 мм |
Скачать буклет
Приложения
Галерея
Строительный материал, содержащий асбест
Идентификация минералов
Печатная плата
Анализ отказов
Молочнокислые бактерии
Наблюдение за микроорганизмами
Поперечный срез листа моркови
Внутреннее наблюдение
Области применения, связанные с JCM-7000Plus
Поперечные сечения лапши при различных температурах охлаждения
Подробнее
【Избранный список экспонатов】Музей природы Ибараки
В Музее природы Ибараки (Бандо, префектура Ибараки) появился настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), которым могут управлять посетители. Все необходимые для наблюдений операции выполняются с помощью сенсорной панели. Это создаст привлекательную новую экспозицию, которая заставит детей «захотеть вернуться туда снова».
Различия между электронными микроскопами (СЭМ/ТЭМ) и оптическими микроскопами (ОМ) — механизм, особенности и примеры наблюдений.
Микроструктуры, невидимые невооруженным глазом, можно детально рассмотреть с помощью микроскопа. На рисунке ниже показаны различия в размерах и разрешении, наблюдаемые «человеческим глазом», «оптическими микроскопами» и «электронными микроскопами (СЭМ)».
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.