Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр
EDS для JEOL SEM
EDS (энергетический дисперсионный рентгеновский спектрометр) — это приставка к электронным микроскопам. Она регистрирует характеристическое рентгеновское излучение, испускаемое образцом при облучении электронным пучком, что позволяет проводить элементный анализ.
JEOL — единственный производитель, имеющий как собственные EDS-системы, так и электронные микроскопы. JEOL предлагает EDS-системы, разработанные JEOL эксклюзивно для каждой модели СЭМ.
Полностью интегрирован с рабочим экраном СЭМ, прямой анализ всегда возможен с экрана наблюдения, даже во время работы СЭМ.
Таблица энергии для анализа EDS для скачивания
Вы можете скачать PDF-файл таблицы характеристической энергии рентгеновского излучения для EDS-анализа здесь. Надеемся, что эта таблица будет вам полезна в вашей работе и исследованиях.
Особенности
Значок операции для простоты эксплуатации, интегрированный с SEM
Отображение спектра EDS (Live Analysis) и элементной карты (Live Map) возможно в любое время, даже во время наблюдения с помощью СЭМ.
На изображении и в видеоролике представлены примеры настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 NeoScope™.
Автоматическая генерация слоя сплава из элементарной карты!
Простой и полезный фазовый анализ.
Отображается распределение элементов только по соединению!
Визуальное отображение возможно с двумя видами фазового анализа (кластерный и VCA)!
Для фазового анализа (в красной рамке) одним нажатием кнопки можно выполнить разделение фаз из данных картирования.
Анализ кластерной фазы — одно и то же соединение отображается одним и тем же цветом
Фазовый анализ VCA — соединения с контрастом оттенков (показано больше/меньше компонентов)
В принципе, всё автоматизировано. Но возможна ручная настройка количества фаз.
Изображение состава обратно рассеянных электронов
Режим анализа кластерной фазы
Никогда не пропускайте смену элемента или образца!
Запись изменений ЭЦП во времени с помощью анализа воспроизведения.
Пример использования 1
Полезно для наблюдений за изменением формы/распределения элементов (наблюдение in situ) путем нагревания/охлаждения в СЭМ!
Были получены карты элементов EDS поверхности ластика, преобразованные в фильм с помощью анализа воспроизведения (в 140 раз быстрее).
В фильме показано, как поверхность ластика для песка деформировалась под воздействием электронного пучка и как соответствующим образом менялось распределение элементов.
Пример использования 2
Если образец деформируется во время элементного картирования, эта функция может извлечь только данные до деформации и отправить их!
Пример использования 3
Полезно для корректировки/оценки количества интегрирований для элементарного картирования!
Надежный партнер для автоматического измерения количества частиц, размера и элементной информации! Анализ частиц
Характеристики
Общая спецификация JEOL EDS
Тип детектора: SDD (жидкий азот)
Обнаруживаемый элемент: Be to U
Стандартная функция: качественный анализ, упрощенный количественный анализ, элементная карта, монтаж карты
Дополнительные функции: фазовый анализ, воспроизведение, анализ частиц и т. д.
| ДЖКМ-7000 | JSM-IT210 | JSM-IT510
ДЖСМ-ИТ710HR |
JSM-IT810 | |
|---|---|---|---|---|
| Площадь светоприема (мм)2) | 30 | 30 году 60 | 30, 60, 100 | 30, 60, 100 |
| Несколько ЭЦП | ー | ー | 〇 (До 3) | 〇 (До 3) |
| Детектор Gather-X | ー | ー | ー | 〇 (До 3) |
* Цифры, выделенные жирным шрифтом, представляют собой стандартные характеристики каждого прибора.
Интеграция СЭМ и ЭДС позволяет использовать несколько ЭДС для наблюдения за неровными образцами без теней, а также ускорять и исключать повреждения образцов, восприимчивых к повреждению электронным пучком!
Связанные товары
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.