ДЖСМ-ИТ810
Полевая эмиссия Шоттки
Растровый электронный микроскоп

Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией с помощью серии FE-SEM JSM-IT810.
Встроенная автоматизация визуализации и анализа EDS без кодирования обеспечивает оптимизированный и эффективный рабочий процесс.
Доступны новые функции, обеспечивающие высокое качество данных и улучшенный пользовательский интерфейс для всех пользователей SEM.
Функции включают пакет автоматической настройки SEM, функцию трапецеидальной коррекции (полезную для измерений EBSD) и реконструкцию поверхности Live 3D для наблюдения за топографией поверхности.
С серией JSM-IT810 эксплуатация FE SEM еще никогда не была такой простой.

Особенности

Функция автоматического наблюдения и анализа «Нео Действие»

СЭМ-наблюдение и EDS-анализ можно автоматизировать, просто задав условия анализа и выбрав области для измерения.

Пример:
Хондры в хондрите Юлесберга (L3.6)
Посадочное напряжение: 5 кВ

Пакет автоматической регулировки SEM

Пакет автоматической настройки SEM (дополнительно): эта функция использует специальный образец для калибровки увеличения, выравнивания луча и калибровки энергии EDS. Регулярные проверки гарантируют, что оборудование остается в оптимальном состоянии.

Функция Live-3D

Выберите наш многосегментный детектор BSE полупроводникового типа, чтобы создать живую 3D-реконструкцию поверхности образца.
Просмотрите 3D-изображение в режиме реального времени, чтобы проверить топологию образца.

Интеграция с ЭЦП

Функциональность нового поколения, которая устраняет барьеры между наблюдением с помощью SEM и элементным анализом с помощью EDS. Различные методы анализа, такие как точка, площадь, карта и линия, можно зарезервировать непосредственно на экране наблюдения, что позволяет немедленно начать анализ.

Характеристики

Пожалуйста, обратитесь к брошюре.

Скачать буклет

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT810

Связанные товары

Серия Gather-X JED DrySD™ безоконный EDS

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Приборы для пробоподготовки (CP)

Подробнее