Выпуск нового аналитического электронного микроскопа сверхвысокого атомного разрешения JEM-ARM300F2 (GRAND ARM™2)

Фон разработки продукта

В электронной микроскопии большое количество микроскопистов и инженеров продолжали работать над улучшением разрешения. Тем временем компания JEOL приложила усилия для повышения стабильности работы просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Сочетая эти усилия с технологиями коррекции аберраций, мы успешно добились невероятно высокого разрешения.

JEM-ARM300F (GRAND ARM™) — это ПЭМ с атомарным разрешением, ориентированный на достижение лучшего в своем классе разрешения. Но требования к современному ТЭМ включают характеристику не только твердых, но и мягких материалов. В этих условиях пользователи ТЕМ требуют дальнейшего улучшения разрешения и анализа с более высокой степенью точности.
Компания JEOL разработала новый TEM JEM-ARM300F2 (GRAND ARM™2), который отвечает этим требованиям. Эта аналитическая ТЭМ со сверхвысоким атомным разрешением имеет много особенностей. В частности, с новым полюсным наконечником объектива "FHP2" GRAND ARM™2 обеспечивает оптимальное сочетание изображений с превосходно высоким атомным разрешением и лучшего в своем классе элементного анализа EDS с большим телесным углом.
Стандартная конфигурация GRAND ARM™2 включает в себя корпус, который смягчает внешние помехи, что приводит к более высокой стабильности прибора.

Основные особенности

• Оптимальное сочетание сверхвысокого пространственного разрешения с высокой чувствительностью рентгеновского анализа.
  Особенности недавно разработанной полюсной части объектива FHP2 заключаются в следующем:
  • По сравнению с предыдущим FHP, FHP2 обеспечивает более высокую эффективность обнаружения рентгеновского излучения (1.4sr), что более чем в два раза выше, чем у FHP.
  • Низкий оптический коэффициент, низкий коэффициент Cc и низкий коэффициент Cs позволяют проводить рентгеновский анализ со сверхвысоким пространственным разрешением и высокой чувствительностью в диапазоне ускоряющих напряжений.
    (Гарантированное разрешение STEM: 53pm при 300кВ, 96pm при 80кВ)*
  *Это происходит, когда настроен корректор аберрации расширяющейся траектории (ETA) STEM.
• Широкозазорный полюсный наконечник (WGP) для объектива обеспечивает сверхвысокую чувствительность рентгеновского анализа.
  Этот полюсный наконечник с большим зазором между верхним полюсом и нижним полюсом имеет следующие преимущества:
  • WGP позволяет приближать SDD (кремниевые дрейфовые детекторы) большой площади к образцу, достигая сверхвысокой чувствительности рентгеновского анализа (общий телесный угол 2.2 ср).
  • WGP поддерживает более толстые держатели образцов, что позволяет проводить различные типы экспериментов на месте.
• Корректоры сферической аберрации (Cs), разработанные JEOL, интегрированы в колонну микроскопа и обеспечивают сверхвысокое пространственное разрешение.
  • В сочетании с FHP2 GRAND ARM™2 достигает разрешения STEM 53 пм при 300 кВ.
  • В сочетании с WGP GRAND ARM™2 достигает разрешения STEM 59 пм при 300 кВ.
  • JEOL COSMO™ (модуль системы коррекции) позволяет быстро и легко выполнять коррекцию аберраций.
• Пистолет для холодной полевой эмиссии (Cold-FEG) входит в стандартную комплектацию.
  GRAND ARM™2 оснащен Cold-FEG, который обеспечивает меньший разброс энергии от источника электронов.
• Корпус, который смягчает внешние помехи
  Этот новый корпус является стандартным для уменьшения внешних помех, таких как воздушный поток, изменения температуры в помещении и акустический шум.

Основные технические характеристики

Целевой годовой объем продаж

10 единиц / год

Ссылка

• Каталог
  JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 Аналитический микроскоп с атомным разрешением