Представляем JPS-9030, подходящий для анализа больших площадей.
Дата релиза: 2026
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) — это метод качественного и количественного анализа элементов, присутствующих на поверхности образца, а также состояний химических связей. Прибор XPS компании JEOL, JPS-9030, способен анализировать обширные области миллиметрового порядка и подходит для получения усредненной информации об образцах. В этой презентации мы представим особенности прибора JPS-9030 и некоторые данные о его применении.
Этот семинар будет проводиться в Интернете. Вы можете участвовать не только со своего ПК, но и со своего смартфона или планшета, если у вас есть доступ к сети. Мы с нетерпением ждем вашего участия.
Посетив этот вебинар, вы узнаете…
Полезность анализа средних значений с помощью JPS-9030
Примеры анализа XPS с помощью прибора JPS-9030
Особенность JPS-9030
Кому будет полезен этот вебинар?
Пользователь XPS
Клиенты, желающие проанализировать самую верхнюю поверхность образца.
Клиенты, заинтересованные в анализе больших площадей с помощью XPS.
Связанные товары
|
Ведущий |
Мурайя Наоки
Департамент исследований и разработок SA
|
|---|---|
|
Дата/период |
10 февраля 2026 г. (вт) с 16:00 до 17:00 по японскому стандартному времени (Токио)
|
|
Сбор |
Бесплатно |
|
Презентационные материалы |
Вы сможете скачать эти материалы после прохождения опроса после презентации. |
|
запись |
Запись вебинара будет размещена на сайте «Архив вебинаров» страницу позднее. |
|
Вопросы и ответы |
После презентации сессия вопросов и ответов проводиться не будет. |
|
Контакты |
Электронная почта: sales1[at]jeol.co.jp
|
Регистрация
Вебинар завершён. Видеозапись презентации доступна в нашем архиве. Чтобы посмотреть запись, зарегистрируйтесь ниже.
Кино
Пожалуйста, введите свои данные, чтобы перейти на страницу фильма.
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.
