Рекомендации по получению корректных спектров SXE с использованием спектрометра мягкого рентгеновского излучения компании JEOL.
Дата релиза: 2026
Спектры излучения в субмикронном диапазоне материала, полученные с помощью спектрометра мягкого рентгеновского излучения (SXES), отражают состояния химических связей этого материала и незначительно изменяются по форме спектра. Для корректного получения этой информации необходима соответствующая подготовка образца и настройка аналитических условий. Этот вебинар посвящен распространенным ошибкам, допускаемым операторами, незнакомыми с анализом SXES, и предлагает решения этих проблем.
Этот семинар будет проводиться онлайн в формате по запросу и будет доступен в течение ограниченного времени. Вы сможете просматривать материалы в любое время и в любом месте в течение указанного периода.
Посетив этот вебинар, вы узнаете…
Принцип и особенности SXES
Анализ состояния химической связи с использованием SXES
Подготовка и установка пробы, необходимые для анализа методом SXES.
Кому будет полезен этот вебинар?
Пользователь SXES
Пользователь EPMA
Пользователь FE-SEM
Связанные товары
|
Ведущий |
Масару Такакура
Департамент исследований и разработок SA
|
|---|---|
|
Период просмотра по запросу |
С 25 марта (среда) по 27 марта (пятница) 2026 года
|
|
Сбор |
Бесплатно |
|
Презентационные материалы |
Вы сможете скачать эти материалы после прохождения опроса после презентации. |
|
запись |
Запись вебинара будет размещена на сайте «Архив вебинаров» страницу позднее. |
|
Вопросы и ответы |
После презентации сессия вопросов и ответов проводиться не будет. |
|
Контакты |
Электронная почта: sales1[at]jeol.co.jp
|
Регистрация
Вебинар завершён. Видеозапись презентации доступна в нашем архиве. Чтобы посмотреть запись, зарегистрируйтесь ниже.
Кино
Пожалуйста, введите свои данные, чтобы перейти на страницу фильма.
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.
