Семинары/вебинары 2026
Января
-
Вт, 13 янв.
Вебинар
Представляем новые функции высокоскоростного фрезерования IoT CROSS SECTION POLISHER™ с охлаждением и воздушной изоляцией для более интеллектуальной подготовки образцов
CROSS SECTION POLISHER™ (CP)
-
Пт, янв 16
Вебинар
Многосеточные рабочие процессы SerialEM и практические выводы из опыта работы с JEOL CRYO ARM™ [Сессия BioEMTalks 2026, часть I]
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)
фев
-
Вт, 10 фев.
Вебинар
Представляем JPS-9030, подходящий для анализа больших площадей.
Фотоэлектронный спектрометр (ESCA)
-
Пн, 16 фев. – Пн, 23 фев.
Вебинар
Откройте для себя возможности компактного сканирующего электронного микроскопа с волновым фокусом: JSM-IT210 для более интеллектуальных лабораторий.
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
-
Пятница, 20 февраля
Вебинар
Введение в ЯМР-спектроскопию фтора и ее применение в полимерной промышленности.
Спектрометры ядерного магнитного резонанса (ЯМР)
Вт
-
Вт, 10 марта – Вт, 17 марта
Вебинар
Применение метода AES-спектроскопии для исследования полупроводниковых материалов.
Оже-электронные микрозондовые спектрометры (Оже, Auger)
-
Ср, 18 марта
Вебинар
Достижения в области криогенных ЯМР-зондов для современных лабораторий
Спектрометры ядерного магнитного резонанса (ЯМР)
-
Ср, 25 марта 〜 Пт, 27 марта
Вебинар
Рекомендации по получению корректных спектров SXE с использованием спектрометра мягкого рентгеновского излучения компании JEOL.
Спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES), сканирующий электронный микроскоп (SEM), электронно-зондовый микроанализатор (EPMA)
апрель
-
Пятница, 3 апреля
Вебинар
Определение структуры нанокристаллических порошков de novo
MicroED/3DED, рентгенофлуоресцентный спектрометр (настольный), спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР), LC-MS (DART-MS),
-
Вт, 7 апр.
Вебинар
Определение структуры нанокристаллических порошков de novo
MicroED/3DED, рентгенофлуоресцентный спектрометр (настольный), спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР), LC-MS (DART-MS),
-
Ср, 15 апр. 〜 Пт, 17 апр.
Вебинар
Развитие методов наблюдения жидкой фазы in situ с помощью сканирующей электронной микроскопии:
Методы, области применения и аналитические выводы.Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
май
-
Ср, 13 мая 〜 Пт, 15 мая
Вебинар
Инструменты на основе искусственного интеллекта для быстрого определения структуры неизвестных соединений с использованием ГХ-ВРТОФМС
GC-TOFMS, программное обеспечение MS
-
Ср, 20 мая 〜 Пт, 22 мая
Вебинар
Снижение барьера для EBSD: надежные измерения с помощью W-SEM
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
июнь
-
Ср, 24 июня 〜 Пт, 26 июня
Вебинар
Основы сканирующей электронной микроскопии с использованием массивов
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
июль
-
Ср, 15 июля 〜 Пт, 17 июля
Вебинар
Интеллектуальный SEM-EDS анализ с помощью JEOL: автоматизированный фазовый анализ, анализ частиц и рабочие процессы SEM.
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)