Семинары/вебинары 2026

Января

• Вт, 13 янв.

  Вебинар

  Представляем новые функции высокоскоростного фрезерования IoT CROSS SECTION POLISHER™ с охлаждением и воздушной изоляцией для более интеллектуальной подготовки образцов

  CROSS SECTION POLISHER™ (CP)

• Пт, янв 16

  Вебинар

  Многосеточные рабочие процессы SerialEM и практические выводы из опыта работы с JEOL CRYO ARM™ [Сессия BioEMTalks 2026, часть I]

  Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)

фев

• Вт, 10 фев.

  Вебинар

  Представляем JPS-9030, подходящий для анализа больших площадей.

  Фотоэлектронный спектрометр (ESCA)

• Пн, 16 фев. – Пн, 23 фев.

  Вебинар

  Откройте для себя возможности компактного сканирующего электронного микроскопа с волновым фокусом: JSM-IT210 для более интеллектуальных лабораторий.

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

• Пятница, 20 февраля

  Вебинар

  Введение в ЯМР-спектроскопию фтора и ее применение в полимерной промышленности.

  Спектрометры ядерного магнитного резонанса (ЯМР)

Вт

• Вт, 10 марта – Вт, 17 марта

  Вебинар

  Применение метода AES-спектроскопии для исследования полупроводниковых материалов.

  Оже-электронные микрозондовые спектрометры (Оже, Auger)

• Ср, 18 марта

  Вебинар

  Достижения в области криогенных ЯМР-зондов для современных лабораторий

  Спектрометры ядерного магнитного резонанса (ЯМР)

• Ср, 25 марта 〜 Пт, 27 марта

  Вебинар

  Рекомендации по получению корректных спектров SXE с использованием спектрометра мягкого рентгеновского излучения компании JEOL.

  Спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES), сканирующий электронный микроскоп (SEM), электронно-зондовый микроанализатор (EPMA)

апрель

• Пятница, 3 апреля

  Вебинар

  Определение структуры нанокристаллических порошков de novo

  MicroED/3DED, рентгенофлуоресцентный спектрометр (настольный), спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР), LC-MS (DART-MS),

• Вт, 7 апр.

  Вебинар

  Определение структуры нанокристаллических порошков de novo

  MicroED/3DED, рентгенофлуоресцентный спектрометр (настольный), спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР), LC-MS (DART-MS),

• Ср, 15 апр. 〜 Пт, 17 апр.

  Вебинар

  Развитие методов наблюдения жидкой фазы in situ с помощью сканирующей электронной микроскопии:
  Методы, области применения и аналитические выводы.

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

май

• Ср, 13 мая 〜 Пт, 15 мая

  Вебинар

  Инструменты на основе искусственного интеллекта для быстрого определения структуры неизвестных соединений с использованием ГХ-ВРТОФМС

  GC-TOFMS, программное обеспечение MS

• Ср, 20 мая 〜 Пт, 22 мая

  Вебинар

  Снижение барьера для EBSD: надежные измерения с помощью W-SEM

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

июнь

• Ср, 24 июня 〜 Пт, 26 июня

  Вебинар

  Основы сканирующей электронной микроскопии с использованием массивов

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

июль

• Ср, 15 июля 〜 Пт, 17 июля

  Вебинар

  Интеллектуальный SEM-EDS анализ с помощью JEOL: автоматизированный фазовый анализ, анализ частиц и рабочие процессы SEM.

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

август

• Ср, 12 августа 〜 Пт, 14 августа

  Вебинар

  Применение источников осаждения при бомбардировке (представлено на китайском языке)

  Оборудование для нанесения тонких пленок

• Ср, 19 августа 〜 Пт, 21 августа

  Вебинар

  Подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии с контролем ориентации с использованием ионно-лучевой сканирующей электронной микроскопии и дифракции электронов в обратном направлении с переносом в условиях воздушной изоляции.

  Система фокусированного ионного пучка (FIB)

• Ср, 26 августа 〜 Пт, 28 августа

  Вебинар

  Решение задач анализа неизвестных соединений в химической цепочке поставок с использованием ГХ-TOFMS + ИИ.

  Газовые хроматографы-масс-спектрометры (ГХ-МС), программное обеспечение для масс-спектрометрии.

сен

• Ср, 23 сент. 〜 Пт, 25 сент.

  Вебинар

  Помимо морфологии и композиции:
  Интегрированный подход SEM-EDS-Raman для характеризации перспективных материалов

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

• Ср, 30 сентября – Пт, 2 октября

  Вебинар

  Советы по анализу методом EPMA — Как отобразить карту интенсивности в виде карты концентрации

  Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

окт

• Ср, 7 окт. 〜 Пт, 9 окт.

  Вебинар

  Представляем CRYO ARM™ 300S и 200S: интеллектуальную, стабильную и бесшовную платформу для криоэлектронной микроскопии нового поколения.

  Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)

• Ср, 21 окт. 〜 Пт, 23 окт.

  Вебинар

  Основы SEM-EDS: советы для надежного элементного анализа

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

ноябрь

• Чт, 5 ноя

  Вебинар

  Инновационный подход к анализу отказов полупроводниковых устройств – «HAXIS»

  Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Список по годам