Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

Семинары/вебинары 2025

Января

  • Пт, янв 10

    Вебинар

    Новейший метод анализа Оже и примеры измерений с высоким энергетическим разрешением

    Оже-электронные микрозондовые спектрометры (Оже, Auger)

фев

  • Вт, 4 фев.

    Вебинар

    Практические примеры анализа материалов твердотельных аккумуляторов с использованием XPS

    Фотоэлектронный спектрометр (ESCA)

Вт

  • Пт, Мар 28

    Вебинар

    Введение в мягкую рентгеновскую эмиссионную спектроскопию (SXES) и последние темы по анализу соединений лития

    Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

май

  • Чт, 15 мая 〜 Пт, 16 мая

    Семинар/Вебинар

    Международная академия SXES

    Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

июль

  • Пт, 18 июля

    Вебинар

    Советы по EPMA анализу. Как выбрать рентгеновские лучи и аналитические кристаллы

    Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

окт

  • Вт, 21 окт.

    Вебинар

    Больше никаких догадок при подготовке образцов для TEM
    - Достигните точности и эффективности с помощью системы FIB-SEM JIB-PS500i -

    Система фокусированного ионного пучка (FIB)

ноябрь

  • Пт, 14 нояб.

    Вебинар

    Форум по аккумуляторам — ноябрь 2025 г. (Организатор: VOLTA FOUNDATION)

    Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (ЭДС)

декабрь

  • Пт, 5 дек.

    Вебинар

    Представляем интеграционную систему XRF-EPMA

    Рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF)

  • пн, 8 декабря 〜 вт, 9 декабря

    Семинар

    Постконференционный семинар AsCA на Окинаве, Япония
    Исследование новых горизонтов структурных исследований с помощью электронной микроскопии

    Электронный дифрактометр (MicroED / 3D ED)

  • Вт, 9 дек.

    Вебинар

    Оптимизация рабочих процессов СЭМ с помощью Neo Action — автоматизированное наблюдение СЭМ и анализ ЭДС на базе JSM-IT810

    Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Список по годам