Новейший метод анализа Оже и примеры измерений с высоким энергетическим разрешением

Дата релиза: 2024

В прошлом существовали негативные представления об анализе Оже, например, о его сложности и длительности. Представленное на этот раз «Спектральное изображение» переворачивает эти изображения и предоставляет кубические данные, подобные EDS.
Используя этот новый метод, мы представим примеры измерений с высоким энергетическим и пространственным разрешением, которые легко возможны с помощью Оже.

Этот семинар будет проводиться в Интернете. Вы можете участвовать не только со своего ПК, но и со своего смартфона или планшета, если у вас есть доступ к сети. Мы с нетерпением ждем вашего участия.

Посетив этот вебинар, вы узнаете…

• Новейший метод измерения Оже

• Последние данные по применению Auger

• Новейшее программное обеспечение, простое в использовании

Кому будет полезен этот вебинар?

• Пользователь шнека

• Клиент, заинтересованный в анализе электрического состояния

• Клиент заинтересован в измерении EELS для объемных образцов

Ведущий

Кономи Икита

Департамент исследований и разработок SA
Бизнес-подразделение ЮАР

Дата/период

10 января 2025 г. (пт) с 16:00 до 17:00 JST (Токио)

Связанные товары

JAMP-9510F Автоэмиссионный оже-микрозонд

Презентационные материалы

Можно загрузить, заполнив опрос после вебинара.

запись

Запись лекции мы опубликуем позднее.
Мы сообщим вам через нашу электронную рассылку и социальные сети, когда запись будет опубликована.

Сбор

Бесплатно

Регистрация

Пожалуйста, зарегистрируйтесь здесь.

Контакты

Электронная почта: sales1[at]jeol.co.jp
Отдел формирования спроса.
JEOL Ltd.

• пожалуйста, используйте @ вместо [at]