Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

IPFA 2026 - 33-й Международный симпозиум IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных схем.

Дата: 2026 / 04 / 08

Организатор: IEEE

Мы будем участвовать в выставке IPFA 2026. Приглашаем вас посетить стенд JEOL (стенд № B23)!

   

Время

Пн, 13 июля – четверг, 16 июля 2026 г.

место встречи

Главный бальный зал «Орхидея»,
4 этаж, Marina Bay Sands
10 Bayfront Avenue, Сингапур 018956
доступ

Номер стенда

B23

Контакты

Электронная почта: jeol_event[at]jeol.co.jp
Отдел формирования спроса.
JEOL Ltd.

  • Примечание: пожалуйста, используйте @ для [at]

Содержание выставки

Система лазерного сканирующего электронного микроскопа LazEdge

Аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F NEOARM с атомным разрешением

Система JIB-PS500i FIB-SEM

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT810

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

IB-19540CP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™
IB-19550CCP Охлаждающая полировальная машина поперечного сечения™

Закрыто
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.